[参考译文] CCS/TMS570LS0432：连接目标时出错...

您好 Indrajit、

根据 CAN 通信协议、DCAN 总线需要一个120欧姆的电阻作为端接电阻器
请通过电路板上的电阻器(例如4.7K 欧姆)下拉 JTAG nTRST
请探测您的 JTAG 信号、电路板噪声可能会干扰 JTAG 通信

实际上，我们首先测试微控制器是否已编程。

现在我连接了 JTAG nTRST 的下拉寄存器，但它显示了相同的问题，即连接目标时出错(错误-2131@0x0)。

如果您看到原理图，则与 launchpad 原理图相同。 您能否再次查看原理图。

是否存在任何其他问题，如引导加载程序、编译器或微控制器 IC 附带的任何固件。

谢谢你。  

e2e.ti.com/.../3326.can-module.pdf

您好 Indrajit、

您使用一个 ADC 引脚(ADIN[16])、但您将 ADC 模块电源引脚和接地引脚保持悬空(VCCAD 和 VSSAD)、因此 ADC 模块将无法工作。

在 Target configuration (目标配置)窗口中、您能否运行连接测试？ 如果失败、它会在"test connection (测试连接)"窗口中为您提供更多信息。

大家好、我们尝试了目标配置、结果就是这样



[开始：德州仪器 XDS100v2 USB Debug Probe_0]

执行以下命令：

%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

[结果]


---- [打印电路板配置路径名]---------------

/root/.ti/ti/1/0/BrdDat/testBoard.dat

---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'libjioserdesusb.so'。
图书馆的建造日期为"2017年7月21日"。
库构建时间为'19：29：13'。
库软件包版本为'7.0.48.0'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

此路径长度测试使用64个32位字的块。

JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在零。

JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在零。

---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
测试1字0：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字1：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字2：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字3：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字4：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字5：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字6：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字7：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：1、跳过：0、失败：1
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG IR 完整性扫描测试失败。

---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
测试1字0：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字1：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字2：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字3：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字4：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字5：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字6：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字7：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：1、跳过：0、失败：1
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG DR 完整性扫描测试失败。

[结束：德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针_0]






我们不会得到实际问题的位置，如硬件(电源和时钟)或 JTAG 连接问题。
每次我们尝试转储程序时，都会收到相同的消息。

谢谢

您好，此问题尚未解决。
在 JTAG 测试中，它显示卡在零。
这是因为扫描路径损坏吗？
这是制造故障还是焊接？

请帮帮我。
谢谢

您好 Indrajit、

您的仿真器是否可与 TI 电路板配合使用？ 在我看来、问题是由您的硬件引起的。 请确保 MCU 的电源(内核、IO、PLL、闪存)在有效范围内、并确保电路板的 GND 为干净。

正如我说过的、ADC 没有电源(VCCAD、VSSAD)。