[参考译文] TMS570LC4357：PLL 启动勘误表 SSWF021#45

[引用 user="Franck WARTEL"]在  最终用户预期的 PLL 频率下执行锁定过程 只会影响实际的锁定序列时间，还是 会危及锁定成功率？

是的、所选的设置提供了高频率反馈时钟、可优化 VCO 的启动。 其他设置的成功程度稍低。

[引用 user="Franck WARTEL"]在 完成系统热复位后执行每个锁定过程尝试，而不是在单 次上电 复位后连续执行，将危及锁定成功率?[/引用]

一旦 VCO 在上电后成功启动、就不再需要运行变通方法代码。 请注意、传递到变通方法例程的重试次数实际上是超时的最大值。 一旦 VCO 启动且 PLL 正确锁定、例程就会退出。 尝试次数少于5次会降低解决方法的有效性。 增加重试次数会提高效率、但速度会大幅降低。

[引用 user="Franck WARTEL">您能否说明在尝试五次后 PLL 仍未成功锁定的情况下，建议执行的步骤是什么？您是否要重新注释以 执行其他重试或在尝试再次锁定之前执行电源重置？  [/报价]

这实际上取决于应用的需求。 某些客户将重试次数设置为零、导致最大重试次数为无限。 其他参数会导致系统复位、这通常相当于相同的效果、无限重试。 其他器件则会继续以晶体频率运行、但功能有限、并让 MCU 提供一些故障模式指示。 最好切断电源并重新施加电源。 简单地将 nPORRST 置为有效而不会切断电源、这并不比仅仅一次软件复位更有效。

[引用 user="Franck WARTEL"]是否存在会影响发生率的特定环境条件？

可能出现此故障模式的每个器件都将在较小的温度/电压窗口中显示。 遗憾的是、发生故障的温度和电压对于每个器件都是唯一的。 通常、更多器件在低温条件下发生故障、但某些器件在中高温和高温条件下发生故障。

[引用 user="Franck WARTEL"]您是否有实际数字来量化"罕见"事件发生率？

我们使用5、000个上电周期进行的测试、平均分布在-40°C 至125°C 的环境温度范围内、并使用5次重试的权重测试可预测故障率约为30 DPPM (每百万缺陷器件数)。