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器件型号：TMS570LC4357 您好！
我们目前正在使用 TMS570LC4357 组件进行开发。
通过分析数据表"SPNS195C"，我们可以在§6.6.4“时钟测试模式”中找到“特殊模式”一词。
您能为我们提供此术语的定义吗？
此外、您能否确认此特殊模式(如果已激活)不会影响器件的全局行为、并且仅驱动这些输出引脚的输出多路复用器？
此致、
Christopher。
您好！
我们目前正在使用 TMS570LC4357 组件进行开发。
通过分析数据表"SPNS195C"，我们可以在§6.6.4“时钟测试模式”中找到“特殊模式”一词。
您能为我们提供此术语的定义吗？
此外、您能否确认此特殊模式(如果已激活)不会影响器件的全局行为、并且仅驱动这些输出引脚的输出多路复用器？
此致、
Christopher。
您好、Christopher、
TMS570LC43x 微控制器支持一个测试模式、此模式允许用户在 ECLK1上提供几个不同的时钟源和时钟域。 它是用于调试目的的非常有用的信息。 表6-18 (SPNS195C)中列出了时钟源和时钟域的选择。
每个时钟源还在时钟源有效状态(CSVSTAT)寄存器中有一个相应的时钟源有效状态标志。 在这个时钟测试模式中、时钟源有效状态标志也可被引出至 N2HET1[12]端子。 表6-19列出了这些标志的选择。
时钟测试模式由系统模块寄存器帧中的 CLKTEST 寄存器控制。 通过向 CLK_TEST_EN 字段写入0x5可启用时钟测试模式。 输出到 ECLK1引脚的信号由 SEL_ECP_PIN 字段定义、而输出到 N2HET1[12]引脚的信号由 SEL_GIO_PIN 字段定义。
ECLK 可被外部监控为一个安全诊断。 此模式不会影响其他功能。
