[参考译文] CCS/TMS570LS3137：TMS570LS3137 AJSM

admin

Other Parts Discussed in Thread: UNIFLASH, HALCOGEN, TMS570LS3137, TMS570LS1227

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/686560/ccs-tms570ls3137-tms570ls3137-ajsm

器件型号：TMS570LS3137
主题中讨论的其他器件：UNIFLASH、 HALCOGEN、 TMS570LS1227

工具/软件：Code Composer Studio

您好、先生、

我在解锁器件时遇到问题。我使用了 Halcgen 和 CCS v7.2.0、并使用 AJSM 模块锁定了我的器件。我尝试解锁以使用 cmd 窗口，但无法连接到设备。您可以看到下面的图像。

如何解锁设备？您能否分享任何示例或工具？我使用 Uniflash、如何解锁以使用 Uniflash？

7 年多前

0 admin 7 年多前

TI__Guru**** 2478765 points

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

您好、Emre、

。从通过 HALCoGen 生成的 jsm.asm 中找到解锁扫描模式或解锁密钥

AJSM0~AISM3是您编程到 OTP 的密钥。解锁键为：

DBGUT 键：1aa23545....

2.在 CCS 中，双击您的目标配置文件(例如 TMS570LS3137.ccxml)，然后单击“测试连接”，将生成 testBoard.dat 文件，该文件位于 c:\users\...\AppData\Local\Texas Instruments\CCS\ti\x\y\BrdData (x、y 是数字，位置显示在“测试连接”窗口中)：

3. dbgauth.exe 位于 c:\ti\ccsv7\con\uscif\dbgauth.exe 中

4.打开您的命令窗口，键入以下命令以解锁(用您的替换文件夹名称和解锁键)

C：\ti\ccsv7\ccommon\uscif\dbgauth.exe -c C：\Users\...\AppData\Local\TEXASI~1\ccs\ti\1\0\BrdDat\testBoard.dat -s ajsm -t cortexr4 -k 1aa23545... -m 1.

0 admin 7 年多前

TI__Guru**** 2478765 points

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

您好、Wang、

我尝试了您的建议、但我现在也有同样的问题。您可以看到下面的屏幕截图。

您能否与 CCS 分享任何解锁示例？

0 admin 7 年多前

TI__Guru**** 2478765 points

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

您好、Emre、

我看到您在执行连接测试时遇到 JTAG 连接问题。通过"连接测试"生成的电路板文件可能不适用于 AJSM 解锁。

您可以使用 dbgauth.exe 或 CCS 来解锁 AJSM、但两者都使用相同的方式。对于 CCS 方法，我们添加 dbgaut.... GEL 文件中。

0 admin 7 年多前

TI__Guru**** 2478765 points

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

您好、Wang、

感谢你的答复。我在 JTAG 连接方面没有遇到任何问题。您可以在下面看到测试连接数据。

(三
[开始：德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针]

执行以下命令：

%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

[结果]

---- [打印电路板配置路径名]---------------

C：\Users\EMREIL~1\AppData\Local\TEXASI~1\
CCS\ti\0\0\BrdDat\testBoard.dat

---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
库构建日期为"2017年23日"。
库构建时间为'19：37：36'。
库软件包版本为'6.0.628.3'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

此路径长度测试使用64个32位字的块。

JTAG IR 指令路径长度测试成功。
JTAG IR 指令路径长度为6位。

JTAG DR 旁路路径长度测试成功。
JTAG DR 旁路路径长度为1位。

---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。

JTAG IR 完整性扫描测试成功。

---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。

JTAG DR 完整性扫描测试成功。

[结束：德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针]
(二