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[参考译文] TMS570LC4357：DCAN ECC 测试

admin
Guru**** 2347060 points
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/675948/tms570lc4357-dcan-ecc-testing

器件型号：TMS570LC4357

您好！

我最近一直在阅读 DCAN、现在我正在尝试测试 DCAN RAM ECC 功能。 我并不完全清楚 SECDED 机制。 我们需要的所需功能是、在任何 ECC 错误(单个或双个)上、应该通知 ESM。 我们不想更正任何 ECC 错误。 那么、我要问的问题是：

1. ECC 检查是否默认启用？ 如果不是、如何启用它、它是否与 SECDED 相同？

2、如何注入故障来测试 ECC 功能。 TRM 中的第27.15.3节似乎应该是这样做的方法、但在我的实施中未检测到错误。

谢谢、

密耳

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    TI__Guru**** 2347060 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Milin、

    1、ECC 可通过 CAN 控制寄存器的 PMD 位域启用或禁用。 如果启用 SECDED、ECC 位将自动生成并被检查。 默认情况下禁用 ECC。

    通过 ECC 控制和状态寄存器的 ECCMODE 域、可以启用或禁用单位纠错功能(默认设置：启用)。 在诊断模式下、ECC 错误不会报告给 ESM。
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    TI__Guru**** 2347060 points
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    我尝试通过设置 PMD 位来启用 ECC、但这会导致初始化时出现 ECC 错误。 这是因为 DCAN RAM 未使用存储器硬件初始化寄存器进行初始化。 我在添加它之后使它正常工作。
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    TI__Guru**** 2347060 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Milin、

    很好、它工作正常。 存储器初始化将根据其存储器错误检查方案(ECC)初始化其存储器。