[参考译文] TMS570LS3137：ADC 转换、每256个样本缺失一次样本

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/730642/tms570ls3137-adc-conversion-missing-samples-every-256-samples

我使用的是 TMS570 Hercules 开发套件。

我正在与 ADC (单通道)作斗争、数据采集频率由 RT (例如1-50kHz)和 FATFS 库决定、用于数据采集(SD 卡插槽)。 一切看起来都很好，但是我开始用发电机的正弦测试了。。。 和... 等待我的样片在哪里？ ;/

问题是、每256个样本(它是恒定值、与采集频率无关)就会丢失一些样本。 我没有任何其他中断。 我检查了中断中代码的时间、最大值为7、0us。 (rtiGetCurrentTick = 70、具有 closk 10M)。

以下是我的示例数据：

和我的代码：

if (notification == rtiNOTIFICATION_COMPARE0)
｛
/* ADC 转换*/
adcStartConversion (adcREG1、adcGROUP1)；
while (！adcIsConversionComplete (adcREG1、adcGROUP1))；

adcGetData (adcREG1、 adcGROUP1、ADC_DATA_PTR)；//将转换存储到 ADC 指针
值=(uint16_t)((* ADC_DATA_PTR).value)；

//将 uint16_t 数据转换为2x 字节
dataBufferPtr[0]=(Value >> 8)& 0xFF；
dataBufferPtr = 1


、dataBufferWrite*、dataBufferWrite&f = 1；dataBuffer* dataBufferBytr
=&b；data1；dataBufferWrite&f = dataBuffer* dataBufferWrite&f =&b；dataBuffer* dataBufferBytr = 1；dataBufferWrite&f =&b =&b =&b；dataBufferbw = dataBufferbw =&b



/*检查转换数量是否达到所需数量*/
if (bufferFIlledCount== buffersToBeSaved)
{/*
关闭文件*/
res =f_close (&FSRC);
}

哪里可能是问题？ 如果它可以帮助我还可以添加我的 HalCoGen 项目的屏幕截图。