工具/软件：Code Composer Studio
您好！
我正在使用 TMS570LC4357使用定制板。 我一直在使用这款定制板、没有任何问题、只需一个 Halcogen 项目。 我修改了这个项目(只需禁用应用代码不需要的驱动程序)并尝试使用 XDS110 USB 调试探针对电路板进行编程、并收到以下错误：
CortexR5：连接到目标时出错：(错误-1170 @ 0x0)无法访问 DAP。 重置设备、然后重试此操作。 如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板进行下电上电和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如、较低的 TCLK)。 (仿真包8.0.903.2)
DAP：错误：(错误-242 @ 0x0)无法访问路由器子路径。 电路板配置文件可能不正确。 (仿真包8.0.903.2)
我进一步研究了连接问题、并在目标配置中执行'Test Connection"实用程序时收到以下结果：
[开始：德州仪器 XDS110 USB 调试探针]
执行以下命令：
%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -S 完整性
[结果]
---- [打印电路板配置路径名]---------------
C：\Users\j65396\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
TI\1\1\BrdDat\testBoard.dat
---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------
此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioxds110.dll'。
库构建日期为"2018年11月21日"。
库构建时间为'00：08：45'。
库软件包版本为'8.0.903.2'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'5'(0x00000005)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------
扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 XDS110。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 XDS110功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。
---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----
此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2执行测试。
测试3字20：扫描出0xFE03E0E2并扫描到0x00000002。
测试3字21：扫描出0xFE03E0E2并扫描到0x00000000。
测试3字22：扫描出0xFE03E0E2并扫描到0x00000000。
测试3字23：扫描出0xFE03E0E2并扫描到0x00000000。
测试3字24：扫描出0xFE03E0E2并扫描到0x00000000。
测试3字25：扫描出0xFE03E0E2并扫描到0x00000000。
测试3字26：扫描出0xFE03E0E2并扫描到0x00000000。
测试3字27：扫描出0xFE03E0E2并扫描到0x00000000。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：3、跳过：0、失败：1
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：2
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：3
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：4
一些值已损坏- 60.4%。
JTAG IR 完整性扫描测试失败。
---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----
此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2执行测试。
测试3字0：扫描出0xFE03E0E2并扫描到0x7F01F071。
测试3字1：扫描出0xFE03E0E2并扫描到0x7F01F071。
测试3字2：扫描出0xFE03E0E2并扫描到0x7F01F071。
测试3字3：扫描出0xFE03E0E2并扫描到0x7F01F071。
测试3字4：扫描出0xFE03E0E2并扫描到0x7F01F071。
测试3字5：扫描出0xFE03E0E2并在0x7F01F071中扫描。
测试3字6：扫描出0xFE03E0E2并扫描到0x7F01F071。
测试3字7：扫描出0xFE03E0E2并在0x7F01F071中扫描。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：3、跳过：0、失败：1
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：2
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：3
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：4
一些值已损坏- 65.6%。
JTAG DR 完整性扫描测试失败。
[结束：德州仪器 XDS110 USB 调试探针]
这些结果提出了以下问题：
1. JTAG IR/DR 完整性扫描测试到底在做什么？
2.哪些因素会导致这些测试失败？
在尝试使用新的 Halcogen 项目对自定义板进行编程但未成功之后、我认为我要进一步调查并测试 Hercules HDK TMS570LC4357板上的新 Halcogen 设置。 我使用新的 Halcogen 项目和 XDS100v2 USB 调试探针成功地对 HDK 板进行了编程、提出了以下问题：
3.更新后的 halcogen 项目是否不会导致这些连接问题？
4.我的 XDS110调试器探针是否有问题？
如果有任何资源可以帮助我回答上述4个问题、我将不胜感激。
谢谢、
Vicki
