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[参考译文] TMS570LC4357:由闪存包装程序 DIAGMODS/5/7测试 OTP ECC

Guru**** 2482105 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LC4357

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/924992/tms570lc4357-testing-of-otp-ecc-by-flash-wrapper-diagmodes-5-7

器件型号:TMS570LC4357

您好、Hercules 论坛的支持团队、

TMS570LC4357的安全手册 spnu540a 将闪存包装程序诊断称为 Diagmode = 5和 Diagmode = 7

我了解 QJ 的 POST <e2e.ti.com/.../3408253
用于保护隐式读取的 SECDED 与用于 OTP 总线主控读取的 SECDED 不同。
这听起来很明智、因为在 CPU 从 nRST 中退出之前读取 OTP、CPU 总线主控读取的 SECDED 位于 CPU 模块中。
此外、TRM spnu563a 的第7.7.4节中建议的测试 OTP SECDED 的过程似乎与完全不同
TRM 的7.7.2.1和7.7.2.2节中调用的测试程序来执行闪存包装程序测试 diagmode = 5/7。

我的问题是:
(Q1)闪存包装程序诊断 diagmode = 5/7是否真正被用于测试隐式读取中使用的 SECDED? 或者在编写 SM 时将其作为错误的原因?

提前感谢您的支持。

Stephan

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    您好、Stephan、

    TRM (spnu563a)中的第7.7.4节介绍了检查隐式读取 ECC 逻辑是否正常工作的方法。

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    早上好、Sunil、

    很抱歉再次打扰您、但我的实际问题是

    (Q1)闪存包装程序诊断 diagmode = 5/7是否真正被用于测试隐式读取中使用的 SECDED? 或者在编写 SM 时将其作为错误的原因?

    感谢您的耐心等待

    Stephan

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    Stephan、

    闪存包装程序诊断模式5和7针对的故障机制与加电期间从 OTP 内隐式读取时使用的机制不同。

    因此、对于闪存包装程序诊断模式5/7的提及是不正确的、因为对这种隐式读取 ECC 逻辑的测试是不正确的。

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    很棒!

    早上好、Sunil。

    我非常感谢这一澄清。

    祝你一切顺利

    Stephan