[参考译文] TMDSCNCD263：无连接至目标

Yanmin 您好！

请浏览此页面：

https://dev.ti.com/tirex/explore/node?node=A__ALFqIj4dX6S.TZRERoSphA__xdsdebugprobes__FUz-xrs__LATEST

当您跑步时 xdsdfu -e 您看到了什么结果？

您使用的确切 CCS 版本是什么？

谢谢

小

我关闭了所有的电源,包括 Linux,重新启动,热镜像现在略有不同.

连接到目标时出错：
(错误-1170 @ 0x0)
无法访问 DAP。 复位器件、然后重试此操作。 如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板执行下电上电、和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如、降低 TCLK)。
(仿真软件包9.13.0.00201)

----------------

CCS 版本：12.5.0.00007  

xdsdfu 结果为：

YH@tower：/opt$./ti/ccs1250/ccs/ccs_base/common/uscif/xds110/xdsdfu -e

USB 设备固件升级实用程序
版权所有(c) 2008-2019德州仪器(TI)公司。 保留所有权利。

正在扫描支持的 XDS110器件的 USB 总线...

<<<设备0 >>>

VID：0x0451 PID：0xbeF3
器件名称：采用 CMSIS-DAP 嵌入的 XDS110
版本：3.0.0.26
制造商：Texas Instruments
序列号：S26A0375
Mode：Runtime (运行时间)
配置：标准

找到1个器件。

----------------

仍然无法连接。

非常感谢。

c gh 说：

<<<设备0 >>>

VID：0x0451 PID：0xbeF3
器件名称：采用 CMSIS-DAP 嵌入的 XDS110
版本：3.0.0.26
制造商：Texas Instruments
序列号：S26A0375
Mode：Runtime (运行时间)
配置：标准

找到1个器件。

[/报价]

这里看起来不错、

您能尝试运行 JTAG 连接测试并提供结果吗？ 他们可以复制并粘贴到可以附加到此主题的文件中。

https://dev.ti.com/tirex/explore/node?node=A__AMCrhRy9n80ZsUrBFVdo1Q__ccs_devtools__FUz-xrs__LATEST

我使用 cc13xx_cc26xx_2pin_cJTAG_XDS110运行了该板的测试

它与视频略有不同。 但 ir 和 dr 测试成功。

日志文件(无法连接文件,所以粘贴在这里:

START：Texas Instruments XDS110 USB Debug Probe_0]

执行命令：

%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatfilename%-RV -o -S 完整性

[结果]

-------- [打印主板配置路径名}-->--------------------

/home/yh/.ti/ccs1250/0/1/BrdDat/testBoard.dat

-------- [打印复位命令软件日志文件]----------

此实用程序已选择100/110/510类产品。
该实用程序将加载适配器"libjioxds110.SO"。
库构建日期为"STEP 6 2023"。
库构建时间为"09：54：42"。
库软件包版本为"9.13.0.00201"。
库组件版本为'35.35.35.5.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为"5"(0x00000005)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

-------- [打印重设命令硬件日志文件]----------

通过切换 JTAG TRST 信号可重置扫描路径。
控制器是具有 USB 接口的 XDS110。
从控制器到目标的链路是直接的(无电缆)。
该软件针对 XDS110功能进行了配置。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监测 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

-------- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试}-->--------

此测试将使用64个32位字的块。
此测试将只应用一次。

使用0xFFFFFFFF 执行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000进行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。

JTAG IR 完整性扫描测试已成功。

-------- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试-------------------------------------------------------

此测试将使用64个32位字的块。
此测试将只应用一次。

使用0xFFFFFFFF 执行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000进行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。

JTAG DR 完整性扫描测试已成功。

[结束：Texas Instruments XDS110 USB Debug Probe_0]