[参考译文] AM2634-Q1：MSS_L2_0的 SDL PBIST 测试序列

admin

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

器件型号：AM2634-Q1

工具与软件：

尊敬的 Champs,

我的客户尝试在其应用软件中进行 SDL PBIST 测试、但在以下区域(memoryGroupsBitMap=10U)上遇到挂起(卡住)

我的客户刚刚在其应用程序源中添加了 SDL PBIST 示例、如下所示。

当我检查 UG 时、我发现下面的注释、但我不确定 PBIST SDL 测试应该检查什么状态以及是否可以正确访问 L2缓存。

请告诉我、他们可以如何在应用软件上为 PBIST 添加 SDL 示例。

它们使用 MCU+SDK v8.5。

谢谢、此致、

0 admin 1 年多前

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HI Si、

PBIST 是一种破坏性测试。在活动存储器上进行测试时、会破坏该存储器的内容。在这种情况下、如果您的客户正在使用 MSS_L2_0组并尝试对其进行测试、则可能导致器件运行异常。此外、MSS_L2组0和1由 ROM 引导加载程序测试。您可以跳过测试这些存储器。

谢谢。此致、
Vishwanath Reddy。

0 admin 1 年多前

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尊敬的 Vishwanath Reddy：

感谢您的答复。

然后、您能否请客户在哪里找到每个内存区域的 memoryGroupsBitMap #信息？

当他们检查 TRM (spruj4.pdf)时、发现下表、但此值似乎与上面的 SDL 示例不同。

例如、在 SDL 示例中、L2_0的 MemoryGroupbitMap 定义为10、但 TRM 中的存储器组编号为15 (表7-7、R5 PBIST)

您能告诉我客户在哪里可以找到每个内存区域的 memoryGroupsBitMap #信息吗？

谢谢、此致、

0 admin 1 年多前

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HI Si、

我将在内部检查是否有正确的信息。我一收到信息就会提供反馈。

谢谢。此致、
Vishwanath Reddy。

0 admin 1 年多前

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您好、SI：

我已在内部确认。文件 MCU_PLUS_SDK\SOURCE\SDL\pbist\V0\SDK\am263x\中提供的数据 soc sdl_pbist_soc.c 是正确的。我将提交一个 TT 以纠正 TRM 中的信息。

谢谢。此致、
Vishwanath Reddy。

基于 Arm 的微控制器（参考译文帖）(Read Only)