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[参考译文] TMS570LC4357:存储器自检控制器全局使能密钥的 MSTGENA 字段说明中存在差异

Guru**** 2393105 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1448508/tms570lc4357-discrepancy-in-mstgena-field-descriptions-for-memory-self-test-controller-global-enable-key

器件型号:TMS570LC4357

工具与软件:

您好!

我想我已经发现存储器自检控制器全局启用密钥的 MSTGENA 字段说明文档中存在差异。 需要对其进行审查和更正、以便与预期功能保持一致、并确保开发人员能清楚地了解这一点。

SPNU563A–2018年3月

表2-39. 存储器自检全局控制寄存器(MSTGCR)字段说明

差异详细信息

  • 最新文档

    • 该文档说明了:
      Ah Memory self-test controller is enabled
      Others Memory self-test controller is disabled.
      
    • 包含注释:
      Note: It is recommended that a value of Ah be used to disable the memory self-test
      controller. This value will give maximum protec...
      
  • 发行

    • 文档中关于值"Ah"存在矛盾。 最初、它指出值"Ah"使能存储器自检控制器。 但是、后面的注释建议、应该使用'Ah'值来禁用存储器自检控制器。
    • 注释的结尾被切断、使得建议不完整

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 MC b:

    [报价用户 id="606657" url="~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1448508/tms570lc4357-discrepancy-in-mstgena-field-descriptions-for-memory-self-test-controller-global-enable-key "]
    • 文档中关于值"Ah"存在矛盾。 最初、它指出值"Ah"使能存储器自检控制器。 但是、后面的注释建议、应该使用'Ah'值来禁用存储器自检控制器。
    • 注释的结尾被切断、使得建议不完整
    [报价]

    您完全正确地回答了这个问题、它是一个拼写错误、在注释部分中、它应该是5h、而不是 Ah。

    即使我在其他类似的 Hercules 控制器 TRM 中进行了验证、也可以看到5h。

    感谢您提交我们的通知、我将记录此文档的拼写错误、并在未来版本中进行更正。

    ——
    谢谢、此致、
    Jagadish。