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工具与软件:
我在序列模式下添加了更多的 ADC 通道。
我看到渠道一起有影响。
我的意思是、通道 MEM0上的电压会影响在下一个通道上采样的电压、比如在 MEM1中。
是否有办法避免序列发生器模拟通道按"顺序"进行串扰? 延迟 采样时间???
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工具与软件:
我在序列模式下添加了更多的 ADC 通道。
我看到渠道一起有影响。
我的意思是、通道 MEM0上的电压会影响在下一个通道上采样的电压、比如在 MEM1中。
是否有办法避免序列发生器模拟通道按"顺序"进行串扰? 延迟 采样时间???
尊敬的 EASON:
是的、我曾尝试增加采样时间、但没有任何良好的效果。
我拥有的代码基于以下示例:
https://dev.ti.com/tirex/explore/node?node=A__ANq7v2KAreeLhjdIeWm9bA__MSPM0-SDK__a3PaaoK__LATEST&placeholder=true&search=adc
下面是我的代码和 UART 结果:
e2e.ti.com/.../uart-result.txt
e2e.ti.com/.../0027.adc12_5F00_sequence_5F00_conversion_5F00_LP_5F00_MSPM0L1306_5F00_nortos_5F00_ticlang.zip
当我增大 CH3时、CH4不应增大。 在我看来、通道间存在串扰。
CH2= PIR 输入。 运算放大器输出。
CH3= CDS 输入(光传感器) 5k 分压器、带有 CDS 上拉电阻器。
用于测量电压的 CH4= 54分压器。 R-TOP=1MEG。 r-bot=200k。 (1/6分频)。
希望它能帮助您理解。