Other Parts Discussed in Thread: OPA2132
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器件型号： OPA2132
尊敬的 Texas Instruments 支持团队：
我想请求您协助查看在我们的生产测试中使用的某款器件上观察到的电气行为差异。
器件信息
- 制造商：Texas Instruments
- MPN：OPA2132UA/2K5
- 受影响的日期代码：3,725,4025
- 参考（已知良好）日期代码：相同 MPN 的旧日期代码
问题摘要
在对产品进行最终验证测试期间、我们观察到 Solution_Voltage 使用上面列出的较新生产日期代码中的器件时、AO_CCS 测试步骤中出现了一致的故障。
在我们的应用中、OPA2132 用于模拟信号调节电路、其中我们测量 AO_OPA2132 Solution_Voltage、这表示模拟链的暗电压/零‑输入输出失调电压。 此测量是在允许电路稳定后的无‑μ A 输入（黑暗）条件下进行的。
使用现有测试条件（在 ‑μ s 秒延迟 )、较新生产日期代码材料中的 AO_O_ Solution_Voltage 会漂移到中 负范围（约–100mV 至–800mV） 、导致测试失败。 在相同条件下、较旧的生产日期代码材料在规格 (0–200mV) 范围内保持稳定并始终通过。
其他意见
- 从而减少测量延迟 30–45 秒 可得到大约稳定的读数 10mV 至 20mV 生产日期代码、完全在规格范围内。
- 其他电气或功能参数不受影响；所有其他测试始终通过。
- 此行为表明为 a 放电速度更快 生产日期代码材料中所使用的新器件数量。
申请 TI 反馈
- 在过去几年中、OPA2132UA/2K5 是否发生过 ECN、PCN 或制造/工艺变更（例如器件版本，晶圆制造厂位置，封装，测试流程或材料）、尤其是针对受影响的生产日期代码。
- TI 可以提供有关此器件型号相关变更历史记录的任何文档或摘要。
