[参考译文] OPA2132：新生产日期代码部件故障、生产日期代码：3725 &amp；4025

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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

器件型号： OPA2132

尊敬的 Texas Instruments 支持团队：

我想请求您协助查看在我们的生产测试中使用的某款器件上观察到的电气行为差异。

器件信息

问题摘要
在对产品进行最终验证测试期间、我们观察到 Solution_Voltage 使用上面列出的较新生产日期代码中的器件时、AO_CCS 测试步骤中出现了一致的故障。

在我们的应用中、OPA2132 用于模拟信号调节电路、其中我们测量 AO_OPA2132 Solution_Voltage、这表示模拟链的暗电压/零‑输入输出失调电压。此测量是在允许电路稳定后的无‑μ A 输入（黑暗）条件下进行的。

使用现有测试条件（在 ‑μ s 秒延迟 )、较新生产日期代码材料中的 AO_O_ Solution_Voltage 会漂移到中 负范围（约–100mV 至–800mV） 、导致测试失败。在相同条件下、较旧的生产日期代码材料在规格 (0–200mV) 范围内保持稳定并始终通过。

其他意见

申请 TI 反馈

在过去几年中、OPA2132UA/2K5 是否发生过 ECN、PCN 或制造/工艺变更（例如器件版本，晶圆制造厂位置，封装，测试流程或材料）、尤其是针对受影响的生产日期代码。

0 admin 3 个月前

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您好、Joseph：

您在 OPA2132 中看到的差异可归因于此处的 PCN。在德州仪器的多年计划中、PCN 变化是我们将产品从 150 毫米工厂过渡到更新、更高效的制造工艺和技术的一部分、这凸显了我们对产品寿命和供应连续性的承诺。

更新后的器件旨在与原始器件的行为密切匹配、更新了数据表以反映任何更改。您可以在 OPAx132 数据表的第 9 节中找到此更新列表。

但是、存在一些细微差异、这些差异可能是导致您看到的故障的根本原因。您能否提供用于分析的应用电路？

此致、
嘉莉

0 admin 3 个月前

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您好 Carrie、

由于机密性限制、我们无法附加完整的原理图。但是、OPA2132 应用在功能上与以下说明等效。

该电路使用两个由±15V 供电的级联 OPA2132 级：

第一个 OPA2132 级配置为缓冲器/放大器、通过电阻器和 RC 滤波网络接收检测器信号（交流‑耦合和噪声滤波）。检测器对放大器输入存在相对较高的容性负载。
第二个 OPA2132 级配置为具有电阻反馈的非‑Ω 反相放大器。其输出被路由至 AO_SOLUTION_VOLTAGE、该电压由下游 ADC/测试电路进行测量。

‑此特定测试条件、输入信号处于零（暗/无 1 μ s 输入条件）、并在大约 210s 建立时间后测量 AO_SOLUTION_VOLTAGE、延迟期间没有主动开关。

‑在‑ 了这一点、提出的一个假设是、较新日期 Δ I 代码器件中的动态行为（例如环路响应/有效 GBW 或容性 Δ I 负载灵敏度）可能存在细微差异、这可能会与检测器的容性负载和长稳定条件相互作用。

我们从 PCN 中了解到、器件经过重新设计、与之前的行为非常匹配。请说明：

0 admin 3 个月前

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您好、Joseph：

一种在旧设计与新设计中不同的交流规格是增益带宽。典型值现在更高、更接近 11MHz。考虑到其中一个输出具有高容性负载、这可能会对电路的稳定性产生影响。我知道为什么您无法直接共享您的原理图、但如果您能够直接共享更多信息、我们可以将其离线移动。

为了确定您是否遇到稳定性问题、我们需要对您的电路进行稳定性分析。如果您想在内部执行此操作、技术白皮书运算放大器稳定性理论和补偿方法提供了有关该方法的重要分步说明。

让我知道您的想法。

此致、
嘉莉

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