主题中讨论的其他部件: TPA3136D2, TPA3140D2
尊敬的各位先生:
我的客户向我们询问TPA3144D2的辐射排放。
我想比较FFM和SSM的辐射发射数据。
您是否在FFM上有辐射发射数据?
此外,您是否认为数据表中的数据是参考数据,我认为是正确的?
我认为它非常接近数据表数据中水平模式下的规格行。
实际上是否有利润?
因此,如果您有FFM数据和SSM数据,我认为您可以看到SSM的改进效果。
此致,
是。哈塞伯
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尊敬的各位先生:
我的客户向我们询问TPA3144D2的辐射排放。
我想比较FFM和SSM的辐射发射数据。
您是否在FFM上有辐射发射数据?
此外,您是否认为数据表中的数据是参考数据,我认为是正确的?
我认为它非常接近数据表数据中水平模式下的规格行。
实际上是否有利润?
因此,如果您有FFM数据和SSM数据,我认为您可以看到SSM的改进效果。
此致,
是。哈塞伯
您好,Hasebe-san,
EMI检测是一种非常敏感的测量。 测试环境,主板或配置的任何更改都可能会更改测试结果。例如,GNDing,扬声器电线长度,输出滤波器... TPA3144D2数据表中RE_HORIZONTAL的图基于 输出滤波器的铁氧体磁珠+ 1nF电容器。 如果 使用2nF电容器而不是1nF电容器,结果可能会有所改善。 请 在TPA3136D2数据表中查找RE结果,该数据表 基于2nF电容器。
SSM主要 用于CE干扰的减压,因此无论启用还是不启用SSM,结果都应该相似。 请在此 应用手册中查找一些信息
此致,
郑少文
Shawn San您好!
感谢您的善意回复。
我知道EMI测试是非常灵敏的测量。
因此,我将数据表的测试结果视为参考数据。
这是否正确?
另外,由于数据表中仅描述了SSM ->启用的数据,我认为它可以比较SSM⇒禁用(FFM模式)数据是否存在。
您是否有使用此FFM模式的测量数据?
此器件系列仅为TPA3140D2EVM。
TPA3140D2也被视为相同的事物。
您是否具有带TPA3140D2原始电路常数的EMI数据?
此致,
是。哈塞伯
您好,Hasebe-san,
感谢您的解释。 我试图在TPA3144D2或TPA3140D2上找到禁用SSM的原始EMI RE报告,但失败。 如前所述,SSM功能主要用于提高EMI CE性能,SSM启用和禁用之间的RE性能几乎相同。 RE性能 取决于 边缘速率 和 PWM输出上的过冲。 因为 RE测试 覆盖较高的频段,CE测试覆盖较低的频段。 PWM边缘 包括许多高频组件, 对 RE结果有很大影响。 因此 ,比较 SSM启用和禁用之间的RE数据实际上毫无意义,因为SSM实际上并没有显著提高RE性能 。
此致,
郑少文
Shawn San您好!
感谢您的快速回复。
我理解您的意见。
我还尝试检查TPA3140D2EVM的干扰。
(由于没有EMI测试环境,我将搜索线圈放在EVM的IC上,并在相同条件下使用频谱分析仪进行确认。)
正如您所说的那样,结果显示,我能够确认CE波段的差异,但RE波段几乎没有差异。
但是,由于客户使用的输出值接近最大值,我认为输出滤波器的差异也会影响与原始数据的比较。
(尽管它在通常的LCFilter中自然通过,但可以说它甚至在铁氧体磁珠+电容器中通过)
此致,
是。哈塞伯