[参考译文] TLV320AIC3254：-40 C 时的问题

您好、Bhav、

您是否已将问题解决为通过 SPI 进行初始化？ 对于已初始化的器件、在将温度降低到-40 C 时是否会出现任何问题？

此致。  

尊敬的 Diljith：

感谢您的快速响应。

是的、我们认为这是一个初始化问题。  在+25 C 和+70 C 时未发现问题

您对编解码器在-40°C 时的行为会有所不同、从而阻止初始化有什么建议吗？   

期待收到您的回复。

非常感谢、

Bhav

您好、Bhav、

必须运行该测试的器件数量以及其中有多少发生故障。

ADC 和 DAC 使用大量公共模块、包括 PLL 和 SPI 模块、因此不清楚这是如何成为初始化问题。  

1.你是否还可以详细说明"锁定"的含义？ 您的测试设置是什么？观察结果是什么？ 请尝试读取 ADC 和 DAC 状态寄存器。

2.您能否尝试在 ADC 与 DAC 之间回路以排除 I2S 下行链路路径上的任何问题？

请向我们发送转储页面0和页面1在-40C 和+25C 时的值 以及您的器件配置值。  

此致。

尊敬的 Diljith：

我通过电子邮件回复了您的上一个帖子、不确定您是否收到了该帖子？  

如果是、请按以下方式查找我的回答：

"很抱歉我推迟答复、但这一问题仍然是我们的头等大事。

 

简单来说、问题是、在-40°C 时、DAC 输出被确认为正常、但 ADC 输出失败。

 

有关此问题的更多信息、请参阅：

 

• 器件数量：
  • 到目前为止、在测试的20个器件中、有10个器件出现了-40 C 故障。

 

• SPI 配置：
  • 以前、当通过 SPI 配置编解码器时、我们没有读回我们写的内容。  这已经被重新写入、现在一旦被写入、从编解码器中读回寄存器。  
  • 使用此代码在+70 C、+25 C 和-40 C 时确认配置正确  
  • 在-40°C 时、DAC 输出被确认为正常、但 ADC 输出失败。

 

• 模拟音频旁路
  • 正如建议的那样、我们尝试了模拟音频旁路、它在+25 C 时工作正常、但在-40 C 时失败

 

• 数字环回
  • 我们无法使数字回送在25 C 下工作(软件团队正在研究此问题)。

 

• I2S 接口
  • 编解码器用作从器件、如前所述、DAC 经确认可在-40°C 温度下工作、这证明了 DIN、BCLK 和 WCLK 信号。
  • 由于 ADC 在-40°C 时无法正常工作、我们怀疑 DOUT 可能存在机械问题、例如焊点、连接器等
    • 因此、通过手动配置编解码器以在-40 C 时切换此输出来确认收到 DOUT 信号
  • 我们在+25 C 下测量了时序、这些值似乎在带余量的规格范围内。

 

• 编解码器设置
  • 附件是用于配置编解码器的设置。

 

此外、我们是否应该注意此器件的任何勘误表？"

 

我们期待听到您的想法。

 

非常感谢、

Bhav

(我已将我们在电子邮件中使用的编解码器设置文件附加到了一起、但不确定如何附加到此论坛中、如果您尚未收到此文件、请告知)

我已检查收件箱和垃圾邮件文件夹、但未找到任何来自您的电子邮件。 我已在论坛上向您发送了一份朋友请求、这将使我们能够私下共享信息。  

与此产品相关的所有文档均链接到产品页面(https://www.ti.com/product/TLV320AIC3254)。 我们没有此器件的勘误文档。

当您将 ADC 描述为"锁定"时、您是指 DOUT 完全不切换、还是指 DOUT 以给定的固定模式切换。 观察结果到底是什么？

有两项测试需要更多详细信息：

模拟旁路测试在25°C 时工作、但在-40°C 时失败

a)您配置了什么信号路径？

B)什么是模拟源-麦克风输入或线路输入(是否已验证它们在-40C 下工作)。

c)在25C 和-40C 下使用了哪些测试输入以及结果如何？

2.您提到您手动验证了 DOUT 功能。

[引用 userid="480814" URL"~/support/audio/f/audio-forum/986277/tlv320aic3254-issues-at--40-c/3658334 #365834"]因此，手动配置编解码器以在-40°C 时切换此输出来确认收到 DOUT 信号。[/quot]

a)如何配置 DOUT 进行切换？

b)数字回路(即 DIN 到 DOUT)是验证 DOUT 是否正确切换的良好测试。 在实施过程中、您遇到了哪些问题？

请在25°C 和-40°C 时重新附加器件读回值。 您也可以在接受朋友请求后将其私下发送给我。

Diljith

模拟旁路

A/C)信号路径是一个进入 IN1 L/R 的差分500Hz 正弦波(通过一个10 uF 和8k2系列)并通过编解码器旁路和通过 LOR 输出。 请注意、路径通过正确的通道 MICPGA、混频器放大器设置为0dB。

b)我们已将探头连接到 IN1 L/R、并在源断开时观察到以下情况：

->信号与交流耦合之前的预期相同、 但在交流耦合之后、当我们尝试将编解码器配置为-40 C 时、我们观察到 IN1 L/R 电平为0V。当编解码器正常工作时、我们观察到 IN1 L/R 电平为0.75V

->当器件从-40 C 加热到~-12 C 时、IN1 L/R 上的这个0V 电平被恢复至0.75V、而无需重新配置器件。

->我们还观察到、在-40 C 时尝试配置始终会导致 IN1 L/R 上的0V 电平 但是、如果我们在-40 C 下尝试相同的配置、在配置中仅将 CMM 设置更改为0.9V、我们会发现 IN1 L/R 的电平在加电时始终测量0.9V。

根据我们有限的测试结果、症状似乎表明、在-40 C 时将 CMM 设置为0.75V 时、芯片无法正常工作。然而、在将 CMM 设置为0.9V 时、编解码器似乎按预期工作

->关于这一点、应用参考指南建议在设置 CMM = 0.9V 时、AVDD 应为1.8V (而 CMM = 0.75V 时为1.5V)。 假设我们使用的是 LDOIN = 3.3V 的内部 LDO、则产生的 AVDD 为1.77V。考虑到该设置在-40 C 下看起来可靠地工作、内部生成的1.77V AVDD 是否足以在数据表过程电压温度(PVT)工作条件下利用 CM = 0.9V？ 请确认、因为这意味着需要进行重大的重新设计、以包含额外的稳压器。

2.数字环回

a)通过将 DOUT 分配为 GPIO 引脚并进行切换来测试 DOUT。
b)未尝试数字回路、因为它需要对系统进行重大的固件更改。

3.我已向您发送(通过私人消息)我们正在设置的配置设置、并且第0页和第1页寄存器根据请求以-40 C 和+25 C 的温度读取。 关于后者、寄存器在每个温度下似乎没有差异。

我必须向我们的设计人员核实这一点。 我们将就此向您回复。

此致。

尊敬的 Diljith：

设计人员是否提供了任何更新？

我们渴望及时了解这一点。

期待收到您的回复。

非常感谢、

Bhav

您好、Bhavesh、

我们希望您检查是否可以让 ADC 在-40°C 时在单端模式下为发生故障的器件工作。

我们希望您使用 PGA 的单端配置运行实验- 即、不要将 P1_R57设置为0x20、而是将其设置为0x80。

此致