主题中讨论的其他器件:LME49600、 LME49720、 OPA1612、 BUF634A、 OPA1622
您好!
我正在从事一个耳机放大器项目、该项目使用 LME49600数据表中推荐的电路。 只有这样、我才将 LME49720替换为 OPA1612、希望获得更好的性能、并在反馈环路中为两个电阻器使用1.5k。
由于耳机电缆可能会在电路中增加一些容性负载、因此我在加载电容器时一直在检查性能。 但我似乎对稳定性有问题。
该电路在没有容性负载的情况下工作正常。 但是、一旦我添加大于200pF 的容性负载、电路就会开始振荡。 振荡频率约为18MHz。
我还会运行一些仿真来检查。 (Cload 特征未在 lme49600的 SPICE 中建模、因此我不得不改用 BUF634A 的 SPICE、但我假设行为相似。) 尽管仿真显示 PM 为20度、但趋势有所相似:PM 随着容性负载的增加而减少。
在实际测量中添加更多电容器作为负载时、振荡频率随后降至16M 和14MHz。 在出现此类稳定性问题时、这些结果似乎很值得期待。
因此、使用 OPA1612+LME49600的组合似乎没有足够的电容负载相位裕度。 据我所知、某些耳机电缆确实具有高达500pF 的寄生电容。
我还尝试使用 LME49720、但问题相同。 现在、我想知道 LME49600的评估套件是否也有相同的问题、因为我假设在没有电容负载的情况下测量 THD+N 性能。
建议的电路是否确实存在电容负载的此问题? 您对稳定性有什么建议吗? 非常感谢。 提前感谢!!