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https://e2e.ti.com/support/audio-group/audio/f/audio-forum/858429/tas2562-boost-capacitor-piezoelectric-noise
您好！
由于 GSM 通信、我们设计的 VBAT 具有大约217Hz 的纹波、并且在 该状态下禁用了 tas2562升压、因此使用 VBAT 测量 PVDD 和 VBST 几乎相同。 但我们还检测到升压输出电容器正在发出 可闻的压电噪声。 由于 tas2562位于关键点、因此影响可能是无法确定的。 我们想听取有关此问题的一些建议。
此致、
Cain
您好、Cain、
我们将查看此问题并尽快回答。
此致、 Luis Fernando Rodríguez S.
尊敬的 Cain：
避免电容器上压电效应的一种方法是使用钽而不是陶瓷。 如果无法做到这一点、您可以尝试使用以下选项： https://product.tdk.com/en/search/capacitor/ceramic/mlcc/info?part_no=CGA5L1X7R1V106K160AC或使用多个电容器、如 https://product.tdk.com/en/search/capacitor/ceramic/mlcc/info?part_no=C2012X6S1C156M125AC
此致、 －Ivan Salazar 应用工程师-低功耗音频和传动器
您好、Ivan、
感谢您的解决方案。 但是、由于钽电容器的可靠性、我们不太可能使用该电容器。 我们在 PVDD 上放置了两个0603 106/16V 陶瓷电容器、可能不使用较大的电容器。 我们正在考虑对布局或 TAS2562配置进行更改、以将噪声降低到可接受的水平。
我们将在下个月发布 TAS2562的布局指南文档。 我将在我们发布后与您联系。
