尊敬的团队:
下面是一个有关 DRV595的问题。
我们的客户在 TEC 应用中使用此芯片。 执行低温测试时、发现将芯片(DRV595)和 TEC 元件 一起置于低温(约-30°C)后、芯片将在大约3-5分钟后报告故障。 如果将 TEC 元件置于低温状态、但将芯片置于室温状态、则芯片将仅在大约80秒后报告故障。 我们芯片的温度似乎会影响诊断功能。 我将遵循此问题并要求客户执行更多测试、以确认导致故障的原因。
我的问题是、无论故障原因如何、诊断功能是否与温度相关?
如果我获得更多信息、我将更新此问题。 请先帮助我们清除这种困惑。
B&R
朱利嘉

