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器件型号:CC2745R10-Q1Thread 中讨论的其他器件:CC2745R7-Q1、CC2744R7-Q1
工具/软件:
您好、TI
*SDK 版本: 9.12.00.19
我们的测试表明、静态和移动条件下发生无效数据的可能性有显著差异。 无效数据在移动过程中显著增加(静态条件下几乎不存在任何无效数据)、测距波动也变得更加严重。 这是正常现象吗? 是否可以调整任何参数来优化这种情况?
此致!
普雷斯顿