[参考译文] CC2745R10-Q1：cc2745r10 器件 (M0 而非 M33) 的内核检测不正确

尊敬的 Venkatesh：  

我相信你会需要联系 WINIDEA 关于这个问题。 我们的器件是 CM33。  

是的。。 此问题也适用于 seggar 调试器。 很少有硬件内核能够正确检测 M33、很少有硬件内核将其错误检测为 M0。 测试设置相同

尊敬的 Venkatesh：

TI XDS110 调试器是否也是如此？  
当您说几个硬件内核正确检测了 M33、而一些硬件内核错误地检测为 M0 时、您能不能详细说明一下这是什么意思？

当器件与 XDS 调试器连接时可执行相同的器件响应。  

一些硬件内核。 我们有 5 块电路板、其中 3 块电路板具有错误的内核检测（检测到 M0）、2 块电路板正常工作（检测到 M33）

尊敬的 Venkatesh：  

它尝试寻址的 GEL 文件是一个 cc23xx GEL 文件、它是 cortex M0 器件、但我们应该引用 CC27xx GEL 文件。 您是否偶然将此工程从最初使用 CC23xx 的工程迁移过？

此外、您能否运行以下 uniflash 命令并让我知道输出：

uniflash /deskdb/content/TICloudAgent/win/ccs_base/common/uscif/xds110/xdsdfu.exe -e

最后、您能否确认您使用的是哪个 SDK 版本和哪个 CCS 版本？

尊敬的 Evan：

是的、我们将从 CC23xx 迁移到 CC27xx。  

旧工程：

使用的 SDK 是 simplelink_lowpower_f3_SDK_8_40_00_61

使用的 CCS 版本为 ccs2011

新建工程：

使用的 SDK 是 simplelink_lowpower_f3_SDK_9_10_00_83

使用的 CCS 版本为 ccs2011

我将在硬件中运行命令并向您提供反馈

您好 Evan、请在命令运行后查看输出 ...