Other Parts Discussed in Thread: CC2640R2F
器件型号： CC2640R2F
尊敬的 TI 团队： （或替换为特定 AE 的名称）
我们有一位客户在使用 CC2640R2F 电池测试仪）高效管理。 在最近的产品可靠性测试中、他们观察到了有关 ADC 读数精度的异常。 我们正在就此问题寻求您的技术支持和建议。
以下是系统背景和观察到的异常的总结：
【系统背景和应用】
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终端应用： 电池测试仪。 CC2640R2F ADC 用于测量外部电池电压（测量范围：4V 至 31V）。
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硬件/软件架构： 硬件利用分压器网络和运算放大器 (OPA) 将高电压降至 ADC 可接受的范围。 在软件方面、已经实施了初始校准以补偿硬件元件容差（例如，电阻器变化，OPA 失调电压误差）、从而确保精度在室温下符合产品规格。
【异常描述】
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测试条件： 85°C 温度下的高温/高湿度（湿热）/90% RH 条件下的高温/高湿度。 在器件恢复到室温后进行测量。
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样本大小： 5 个原型器件（每个器件包含一个 CC2640R2F）。
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发现的问题：
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恢复到室温后、5 个器件中有 4 个器件将 ADC 测量精度保持在规格范围内。
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不过、1 个器件表现出显著的误差放大。
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特性： 对于低于 14V 的电压、精度保持在规格范围内。 但是、对于高于 14V 的电压、误差超过规格；和 误差随着测得的电压变高而成比例增加。 这种行为与 ADC 非常相似 增益误差 或内部基准电压漂移 Vref )。
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[需要 TI 提供帮助]
如果您能帮助评估这种现象并提供进一步的分析和调试建议、我们将不胜感激。 您的指导对于我们帮助客户解决此问题非常有价值。
非常感谢您的支持！
此致、
Mike1.
