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器件型号：CC2640R2F 您好！
下面是当 IAR 优化设置为高电平时我观察到的片外 OAD 故障。
方案 A：
- 将应用程序优化设置为无。 重新编译所有 BIM、应用和堆栈并将全部3个块闪存到 CC2640R2 Launchpad。
- 创建 OAD 映像。 更改广播名称。 将应用程序优化设置为高。 重建所有应用程序以生成 OAD 映像 bin 文件。
- 使用 BTool 执行 OAD。 BTool OAD 将成功启动和完成。
- 检查 CC2640R2 Launchpad 的广播名称(如果有更改)。 结果是广播名称仍然相同且不更改。 这意味着 OAD 未成功。
方案 B：
- 将应用程序优化设置为高。 重新编译所有 BIM、应用和堆栈并将全部3个块闪存到 CC2640R2 Launchpad
- 创建 OAD 映像。 更改广播名称。 将应用程序优化设置为高。 重建所有应用程序以生成 OAD 映像 bin 文件。
- 使用 BTool 执行 OAD。 返回 OAD_FLASH_ERROR。 OAD 未启动且未成功。
这对我们来说是个问题、因为如果我们不将 IAR 优化设置为高电平、应用程序将超过设置的闪存空间限制。 是否有任何方法可以使 OAD 在 IAR 优化设置为高电平时工作？
－克尔
