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[参考译文] TMS320F280049C:走很长时间后、ADC 采样不准确

Guru**** 2466670 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1484394/tms320f280049c-after-being-left-for-a-long-time-adc-sampling-is-inaccurate

器件型号:TMS320F280049C

工具与软件:

尊敬的 Champ:

我有一个客户方面的问题。  我的客户将 F280049C 焊接在他们的 PCB 上、所有功能都通过了内部测试。  在仓库储存一年后、他们会重新启动系统、发现 F280049的 ADC 部件无法获得正确的采样结果。 一个电路板包含多个 F280049C、使用相同的代码和电源。 但有些是正常的,有些是错误的。  ADC 测试结果表明、误差芯片的某些通道获得的结果较高、而其他通道则低于理论计算值。 采样误差可以达到50%、但找不到明显的模式。

PCB 为熔胶填充。  存储环境处于室温。 ADC 使用外部基准、基准电压现在已确定。 像 SCI 这样的其他功能现在是正常的。 只有 ADC 有问题。  

能否就根本原因提出一些建议?  长期存储是否会导致 ADC 发生故障?

BR、

丰裕

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    尊敬的 Champ:

    有人对这个问题有任何评论吗? 期待您的回复!

    BR、

    丰裕

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    尊敬的 Fengyu:

    您要测试哪些通道、可能需要尝试不同的模块以确保通道/模块不工作。 您要测试的 ADC 通道的输入阻抗是什么? ACQPS 值是什么? 您能说明一下器件封装吗? 您是否从 CCS 运行了任何 ADC 示例? 这可能是一个很好的开始。

    您最近是否碰巧对原理图进行了任何更改?

    谢谢!
    Susmitha