[参考译文] LAUNCHXL-F28379D：从 RAM 运行程序后电路板变砖

您好！

您是否可以使用热像仪？ 这有助于查看器件是否已损坏以及是否可能过热。  

您是否有任何部件连接到 LaunchPad、例如、该部件可能会提供超过器件3.3V 电源轨的电压？

您是否有权使用另一个 TMS320F28379D 器件来替代该器件？ 这是最后的努力

此致、

Peter

您好、Peter、

是的、我有热像仪。 处理器显示的温度为~31°C。 抱歉、我应该已经注意到处理器封装不会变热。 我只是想按照一个逐步的流程来查看它是否损坏。

否、没有任何器件连接到超出3.3V 电源轨的 LaunchPad。

是的、我还有另外一块板用于运行程序。 未发现任何问题。

谢谢你。

您好！

31°C 的温度与器件的运行温度大致相同。 它也有助于将电路板置于等待引导模式以防止 MCU 从闪存运行任何程序。 我们已经看到过在 MCU 初始化之前调试器没有足够的时间启动的情况、这可能会阻止调试器正确连接。

此致、

Peter

您好、Peter、

我尝试将两个板都置于等待模式、以查看是否发生了任何不同的情况。 但是、行为仍然相同。 此外、我利用目标配置菜单中的测试连接功能、发现 JTAG 扫描测试失败。

C：\****** \ccs\ccs1270\0\BrdAt\testBoard.dat

--- [打印重置命令软件日志文件]--------------------------------------------------------

此实用程序已选择100/110/510类产品。
该实用程序将加载适配器"jioserdesusb.dll"。
库构建日期为"STEP 26 2024"。
库编译时间为"10：09：41"。
库软件包版本为"20.0.0.3178"。
库组件版本为"35.35.35.5.0.0"。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为"4"(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

--- [打印重置命令硬件日志文件]--------------------------------------------------------

将通过切换 JTAG TRST 信号来复位扫描路径。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不使用电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监测 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监测 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

--- [从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]----

没有用于编辑 JTAG TCLK 频率的硬件。

--- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

--- [在 JTAG IR 和 DR 上执行标准路径长度测试]-------

此路径长度测试使用由64个32位字组成的块。

JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径固定在一。

JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径固定为1。

--- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试]-------------------------------------------------------

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将只应用一次。

使用0xFFFFFFFF 执行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000进行测试。
测试2字0：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字2：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字3：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字4：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字5：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字6：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字7：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
提供了前8个错误的详细信息。
实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 执行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
某些值被损坏- 83.3%。

JTAG IR 完整性扫描测试失败。

--- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]---------------

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将只应用一次。

使用0xFFFFFFFF 执行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000进行测试。
测试2字0：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字2：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字3：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字4：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字5：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字6：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字7：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
提供了前8个错误的详细信息。
实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 执行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
某些值被损坏- 83.3%。

JTAG DR 完整性扫描测试失败。

[结束：德州仪器(TI) XDS100v2 USB 调试 Probe_0]

您好！

感谢您提供更多信息。 JTAG 连接出现部分故障。 这可能是 C2000器件损坏或调试器损坏所致。 遗憾的是、最简单的解决方案是与元件交换 A/B、检查以了解具体损坏的元件、然后直接更换元件

此致、

Peter