[参考译文] TMS320F28377D：Icepick-C 中的次级调试 TAP 寄存器

admin

Other Parts Discussed in Thread: TMS320F28377D

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1507484/tms320f28377d-secondary-debug-tap-registers-in-icepick-c

器件型号：TMS320F28377D

工具/软件：

您好、

我看到了用于基于 Hercules 的器件的 SPNA230 (基于 Hercules 的微控制器的 JTAG 编程器概述)文档、其中记录了实现的次级调试抽头寄存器(第6页)。

是否有关于 C2000器件的任何文档记录了相同的信息？例如 TMS320F28377D？

我知道文档 SPRUH35、但这更多地是 ICEPICK-C 模块的一般文档。

此致、
Patrick

6 个月前

0 admin 6 个月前

TI__Guru**** 2459090 points

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

尊敬的 Patrick：

TI 公开仅提供了一些有关 C2000器件 JTAG 内部详细信息的基本文档、遗憾的是、我们不对 JTAG 调试协议和器件调试子系统内在函数提供广泛的支持。我将向您私人发送有关如何接收此信息的后续步骤的消息。

此致、

马特

C2000™︎ 微控制器（参考译文帖）

C2000™︎ 微控制器（参考译文帖）(Read Only)

[参考译文] TMS320F28377D：Icepick-C 中的次级调试 TAP 寄存器