[参考译文] TMS320F28P550SJ：多通道上的电弧检测

您好、Terry  

您能否请客户首先单独测试每个渠道。 我们来看看每个通道是否按预期工作。 如果是、则通道切换可能存在问题。

您是否还能判断客户是否使用 DPSDK 版本的 Arc FAULT 固件和 AFE 电路板？

谢谢你

Amir Hussain

您好 Amir

客户正在使用 Arc Fault 固件和 AFE 板的 DPSDK、可以在同一固件中为每个通道单独运行良好、仅在启用2或3通道(而不是仅启用1个通道)时才会发生问题。

如您在代码捕获中所见、它们按独立缓冲区存储每个通道 ADC 数据、如 ADC_INPUT_A[]、 ADC_INPUT_B[] 、ADC_INPUT_C[]；但是、在每个公共通道中使用诸如 model_input_top[]、result.buf0[]、fftwindow[]等公用变量进行分析、是否需要在每个公共通道中对它们进行双重确认？   

您好、Terry

在原始代码中、所选通道的 ADC 数据进入缓冲区[A]。 当 buff[A]已满时、会处理该数据以进行 ARC 检测。 在平均时间缓冲区中、用同一通道的数据填充。 当客户切换信道时、他是否确保 buff[A]和 buff[B]将从另一个信道获取数据？ 我想传达的信息是 buff[A]和 buff[B]都从选定的信道获取数据。 这些缓冲区并不意味着从两个不同通道获取数据。

谢谢你  

Amir Hussain

您好 Amir

我们为  model_input_top[]创建三个缓冲区来解决此问题、并对每个通道独立使用它。