Thread 中讨论的其他器件:C2000WARE、 UNIFLASH
工具/软件:
我在一个应用程序中、在启动时、我从 C2000 诊断库中添加了诊断信息、并复制了 C2000Ware v.5.04 中的示例。 安装目录中的代码C:\ti\c2000\C2000Ware_5_04_00_00\libraries\diagnostic\f28003x\examples\test_application\
进行了一系列测试、其中包括 PIE RAM 和 PIE 处理程序测试。
验证所有测试是否都在运行后、我转到了我的应用程序、该应用程序对两个 SPI 通道和几个 I/O 之间交换的数据执行一些处理。 然后、我的所有工作都涉及数据协议和处理、因为硬件功能正常。
经过几周的工作、其中一个电路板在初始测试中停止工作。 使用调试器 (XDS110) 检查后发现 PIE 处理程序测试失败。 这是正确的:PIE 外围设备被断开并停止响应 不限 EOC 中断。 然后我送了一个板 MCU 更换 并开始在另一个电路板上工作。
该问题开始出现在其他一些电路板上、既从 RAM 运行代码(与调试器一起加载)、也从闪存运行代码。 最后一个事件发生在今天上午:当我加载调试器昨天完美运行的相同代码时,它导致了另一个永久的 PIE 处理程序故障。 我可以切换电源、从调试器运行代码、但是 中断外设不再工作 。
到目前为止、我更换了 3 个 MCU(加上今天的第 4 部分失败)。 其中一个已被更换两次,但它们都来自同一批次 — 标记为 F280039SPZ 7美元 –37CXKCW G4
我不知道什么会导致永久性损坏,总是在相同的内部外设。 该电路板有许多其他器件(一个额外的 F280049、几个 FPGA,接口逻辑等)、它们都没有发生过故障。
我可以做些什么来分析问题? 是否有任何资源可以为我提供帮助?
【编辑】
经过进一步测试、我发现 MCU 表现出奇怪的行为 可恢复正常运行 。 然而,这个过程和它的意义仍然令我感到困惑。
以下是情况和第一个解决方案 (?) 我施加了:
1. MCU 闪存、无 或 随机测试代码在启动时运行(遗憾的是,我没有关于确切的先例条件的记录)
2.使用调试器加载 MCU RAM 并进行诊断测试(应用程序 A )、其中两个结果中的任何一个:
2.a. PIE 处理程序 测试成功 (小时/天/周)
2.b. PIE 处理程序 测试失败: 对电源执行的任何操作(开/关/开循环)或调试操作的重复都会产生相同的结果
然后我做了以下工作:
-加载/运行test_application
之前提到的闪存 或 我的诊断应用程序的闪存版本 A 登录页面
-然后加载 MCU RAM,使用调试器,带有诊断测试(应用程序 A ):PIE 处理程序 测试成功
-董事会,在上述行动后,完美的工作
它的含义是什么? 我不知道。