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[参考译文] TMS320F2800157-Q1:连续 SOC 采样会导致采样结果相互干扰

Guru**** 2419530 points
Other Parts Discussed in Thread: SYSCONFIG

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1538152/tms320f2800157-q1-continuous-soc-sampling-will-cause-the-sampling-results-to-interfere-with-each-other

器件型号:TMS320F2800157-Q1
主题:SysConfig 中讨论的其他器件

工具/软件:

尊敬的专家:

我的客户 AIWIN 如果它们持续触发 SOC、ADC 采样结果将在 F2800154 上波动、

我尝试根据演示“adc_ex1_soc_software"在“在 2800157 Launchpad 上重现问题

ADCA SOC 的配置如下:

SOC0--A10 — 采样 DACA(DAC 在另一板上)输出、DAC 输出将在 0.353.2V 之间变化

SOC1--A5--sample  DACB(DAC 在另一板上)输出、DAC 输出将 固定在 1.65V

SOC2--A0-对 GND 进行采样

SOP3--A7 — 采样 3.3V

SOC4--A9 对 GND 进行采样

测试结果如下:

SoC 触发周期为 0-1-2-3-4。 SOC1 的结果将 在 2000 年至 2100 年之间波动

2.我尝试将采样窗口从 75ns 更改为 750ns、 SOC 触发周期为 0-1-2-3-4。  SOC1 的结果将修复为 2048。

3.我尝试将 A10 样本源更改为固定值、 SOC 触发周期为 0-1-2-3-4。  SOC1 的结果将修复为 2048。

4.我尝试  将 SOC 触发周期更改为 0-2-3-4-1。  SOC1 的结果将在 2000 年修复

 

为什么一个 SOC 的采样变化数据会影响另一个 SOC?的结果?除了延长采样时间窗口之外、还有其他改进方法吗?

谢谢、

Leo

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    嗨、Leo、

    在两个 DAC 板上、您能否提供 DAC 的输出电路?  是否有 RC 网络?如果有、值是多少?

    谢谢、

    Joseph  

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    您好、Joseph:

    ADC 测试在 2800157 EVM 上进行、DAC 来自 280039 EVM。

    在客户端、SOC0 对变化的电压值进行采样、SOC1-4 对固定电压值进行采样。 因此、我使用更改 DACA 的输出和 DACB 的固定输出来重现客户遇到的问题。

    谢谢、

    Leo

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    您好、Joseph:

    是否有任何更新?

    谢谢、

    Leo

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    嗨、Leo、

    这可能是一种耦合情况、即先前的 SOC 采样没有足够的时间对信号进行采样。  对于您使用 DAC 运行的实验、由于 DAC 阻抗、SH 寄存器不足以准确地对信号进行采样。  C2000 DAC 在缓冲器上具有 5K 阻抗和 100pF。  您可以尝试使用 SysConfig 中的采样时间计算器来显示 DAC 阻抗对 SH 采集时间的影响。  输入 DAC 阻抗为 5k Ω、输出电容为 100pF。  计算器将表明所需的 SH 时间为~4.2uS。  您将实验中的 SH 增加了 10 倍、但时间仍然不够。

    在客户的情况下、用于 SOC 的源上有哪些阻抗?  我们可以使用采样时间计算器进行分析。

    此致、

    Joseph