主题:C2000WARE 中讨论的其他器件
工具/软件:
嗨、我想检查 HWBIST 中是否包含时钟丢失检测 (MCD) 逻辑单元测试?
如果没有、如何确定 MCD 是否出现故障?
此致、
Norman
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工具/软件:
嗨、我想检查 HWBIST 中是否包含时钟丢失检测 (MCD) 逻辑单元测试?
如果没有、如何确定 MCD 是否出现故障?
此致、
Norman
Norman、
HWBIST 对此器件上的 MCD 逻辑没有覆盖。
如果您想测试 XTAL 输入、您可以使用 XTALCR 寄存器中的 OSCOFF 位来关闭 XTAL 电路、然后您应该会看到 MCD 激活。
您是否考虑使用 DCC(数字时钟比较)模块? 它比 MCD 更灵活、可以接受许多其他源、不仅可以检测时钟丢失、而且还可以检测到超出规格的时钟。
此致、
Matthew
您好、Matthew、
非常感谢您的澄清。 我同意大家的看法、即与 MCD 相比、DCC(数字时钟比较)模块确实更灵活且易于使用、尤其是它可以监控多个时钟源、不仅可以检测到时钟丢失还可以检测超出规格的条件。
我会考虑将 DCC 集成到我的诊断流程中。 但是、我想问一下如何正确地对 DCC 本身执行自检。建议使用的做法是注入人为错误(例如配置不匹配的比较值或有意禁用一个时钟源)、然后验证是否触发了错误处理机制? 或者、该器件是否支持更正式/自包含的方法来验证 DCC 功能?
此致、
Norman
Norman、
我将参考这两个模块的安全手册。 https://www.ti.com/lit/fs/sffs022/sffs022.pdf
我们的 SDL 文件夹中有一个 MCD 自检代码
C:\ti\c2000\C2000Ware_6_00_00\libraries\diagnostic\f2838x\examples\sdl_ex_mcd_test
这是状态机对 DCC 的要求
6.2.4 DCC 功能的软件测试、包括错误测试
通过对一系列良好和不良的预期时钟比率进行编程并使用软件确认预期结果来执行 DCC 功能的基本测试(包括错误生成)。
因此,到你的观点,我相信这两个自检机制遵循你的第一个结论,即注入人为错误。
此致、
Matthew