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器件型号：TMS320F28P550SJ主题：C2000WARE 中讨论的其他器件
工具/软件：
尊敬的 champs：
我向我们的客户询问这个问题。
用户参考 IEC60730 的 STL 库。
C：\ti\c2000\C2000Ware_5_05_00_00\libraries\diagnostic\f28p55x
问题：
1.对于 CPU 测试、用户正在测试 stl_cpu_reg.asm 中的函数 STL_CPU_REG_testCPURegisters () 。
奇怪的是、用户每 100 毫秒定期运行一次、如果用户对它进行了超过几分钟的测试、它可能会失败（错误的返回值-不是零）。
你有什么评论吗？
此函数是否可能会溢出栈或内存来进行长时间测试？
2.对于 CPU 测试,
这些参数并不重要。
main()
｛
...
while (1)
｛
...
DINT；
状态= STL_CPU_REG_testCPURegisters ()；
EINT；
...
}
然后、用户会发现是否存在诸如 Timer0 ISR 之类的其他 ISR、长时间测试后（例如几秒钟）可能无法为 Time0 ISR 提供服务。
因此,我们感到困惑,如果 STL_CPU_REG_testCPURegisters () 会处理任何与 PIE 相关的?
用户是否必须在 DINT 之前存储 PIE 的状态并调用 STL_CPU_REG_testCPURegisters ()？
3.使用 STL_CPU_REG_testCPURegisters () 是否有任何限制？
