工具/软件：
您好：
我正在处理 TMS320F280025 微控制器、C2000 v5.0.00.00 和安全诊断库 v4.01.00 的项目。
该系统基于两个中断：
- Timer2（500ms 周期）：在 ISR 内、CPUTIMER_TCR_TIF 根据线程中的需要清除：
TMS320F280025：HWBIST 测试后的虚假中断 - ADC（具有 55µs 周期）：每次发生 ISR 时、都会执行 STL_HWBIST_runMicro、直到 HWBIST 测试完成。 之后、闪存 ECC 测试将执行一定数量的周期、以运行可纠正和不可纠正的测试…μ s 然后、该循环从 HWBIST 测试重新启动。
- 没有其他中断干扰正常运行、系统会正确调度。
我注意到、有时 timer2_ISR 的执行延迟的时间等于执行闪存测试的 ADC_ISR 周期数。 之后、STL_HWBIST_runMicro 的执行似乎会恢复正常操作。
这一问题似乎不会在两种不同的情况下发生、即：
- CPUTIMER_TCR_TIF 不能由 timer2_ISR 清除（因此不能通过 HWBIST 测试清除、因为这意味着虚假计时器 2 中断）。
- 与 IER、PIEIER12 和 EINT/DINT 相关的指令不会在 ADC_ISR 的 else 语句中执行。
提前感谢您的支持。
以下是代码：
__ interrupt void timer2_isr (void)
｛
//一些代码...
//清除溢出标志—这是避免虚假中断的强制性操作
//在 HWBIST 微运行执行之后。
CPUTimer_clearOverflowFlag (CPUTIMER2_BASE)；
}
中断无效 ADC_ISR (void)
｛
//一些代码...
//确认中断组 1 以允许来自该组的进一步中断
INTERRUPT_CLEARACKGROUP (INTERRUPT_ACK_GROUP1)；
if（条件==1）
｛
//一些代码...
//执行 HWBIST 微运行
STL_HWBIST_runMicro ()；
//一些代码...
}
暴露
｛
Uint16_t PIEIER_prev = HWREGH (PIECTRL_BASE + PIE_O_IER12)；
// IER：禁用除组 12 和 ERAD 之外的所有中断。
IER &= INTERRUPT_CPU_INT12 | INTERRUPT_CPU_RTOSINT；
// PIEIER12：禁用组 12 的所有中断
//除了闪存可纠正的错误中断。
HWREGH (PIECTRL_BASE + PIE_O_IER12)&= PIE_IER12_INTX11；
//启用中断。
EINT；
//执行闪光自检。
flash_selfest ();
//禁用中断。
DINT；
//恢复中断寄存器。
HWREGH (PIECTRL_BASE + PIE_O_IER12)= PIEIER_PREV；
}
}
