工具/软件:
团队、
我们会在 TI.com 和 E2E 上发布以下指南:
X 射线信息
TI 通常不会在器件数据表中规定可接受的 X 射线水平。 经验表明、大多数 TI 产品对典型的 X 射线检查(典型曝光< 100rad (Si)) 不敏感。 但是、超过这些限值的 X 射线曝光可能会对器件造成损坏、应避免这种情况发生。
此信息“按原样“提供。 如有更改、恕不另行通知。 客户自行负责执行足够的工程测试和额外的资质测试、以确定器件是否适合在其 应用中使用。 使用超出 TI 官方发布规范所规定限值的 TI 产品可能会使 TI 的保修失效。 如需更多信息、请参阅 TI 的销售条款。
https://www.ti.com/support-quality/reliability/reliability-home.html
https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1422128/tps25982-x-ray-inspection-requirement
-我们有更多关于 C2000 第 3 代和相关的基于闪存的 CMOS 工艺的更精确的数据吗?
-或者提及的限制是否适用于 C2000 Gen 3 MCU?
提前感谢、
Anthony