[参考译文] TMS320F28388D：调试探针错误

您好：

请 参阅 F2838x controlCARD 用户指南中的表 1：仿真器开关选择 、确保正确配置 S1：A。

此致、

马特  

我已经提到过、并且 S1：A 连接正确。 我还有这个问题。

您好：

您使用的是片上调试器还是外部调试探针？ 此外、需要检查以下几点：

1. 您能否验证是否正确供电？
2. 上电时 XRSn 是什么样子的？
3. 您可以尝试将器件置于等待引导状态吗？

此致、

马特

我使用外部调试探针。

我还检查了控制卡扩展坞中的所有电源点。 电源正常。  
XRSn 始终为低电平有效。
器件已处于仅等待引导状态。

您好：

我正在使用外部调试探针。

您正在使用哪个外部调试器？

XDS100v2 USB Debug Probe_0/C28xx_CPU1

在错误消息中、似乎为 XDS100v2 配置了 ccxml。 请确认这是正确的。

此外、请验证是否能够使用板载 XDS100v2 进行连接。 这有助于排除调试探针或器件问题。

此致、

马特

我发现这不是探针问题。 我尝试使用另一个正常工作的探头。 我仍然得到相同的误差。  

在错误消息中、似乎为 XDS100v2 配置了 ccxml。 请确认这是正确的。

是的。

实际上、我使用的控制卡是 TMDSCNCD28388D。 在这种情况下、即使上电后、VDD 和 VDDIO 引脚中的低电平有效信号也会出现。 我们可以将其视为硬件问题吗？  

您好、

在这篇文章中、即使在上电后、我也会在 VDD 和 VDDIO 引脚中获得低电平有效信号。 我们可以将其视为硬件问题吗？  [/报价]

情况可能是这样。 我们可以检查几件事来确认吗？

• 您是否可以附加 controlCARD 设置和基板的图片？
• controlCARD 上的 D5 是否亮起？
• 是否在已适当配置 S1 的基板上提供 5V 电源？

此致、

马特

您能否附上 controlCARD 设置的图片以及基板？

controlCARD 上的 D5 是否亮起？

是的

基板上是否提供 5V 电源并且 S1 已正确配置？

是的

XRSn 引脚仍然为低电平有效。 因此控制器无法退出复位状态。 这是什么意思呢?

您好：

我能够连接此设置、S1：A 位置 1 和 2 均为低电平、S2 配置为等待引导。

另外一件事是 XRSn 引脚持续低电平有效。 因此控制器无法退出复位状态。 这种理解是什么？

是的。 如果 XRSn 始终为低电平、这可能表示由于电源电压问题或电路板上的某些问题而触发了内部欠压复位 (BOR)。  

此致、

马特

我能够连接此设置、S1：A 位置 1 和 2 均为低电平、S2 配置为等待引导。

我还将 S1：A 位置 1 和 2 都保持在低电平。 S2：A 位置 1 低电平、S2：A 位置 2 高电平。 完成此配置后、我尝试使用来自 CCS 的代码使 LED 闪烁。 我得到了以下错误。

连接到目标时出错：
（错误–2131 @ 0x0）
无法访问设备寄存器。 重置器件、然后重试此操作。 如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板进行下电上电、和/或尝试更可靠的 JTAG 设置（例如下 TCLK）。
（仿真包 9.12.0.00150）


使用此配置、JTAG DR 完整性扫描测试也失败。

实际上、我仅使用 JTAG 电缆、并且仅使用片上调试器。 我错误地告诉我正在使用外部调试探针。

您好：

实际上我只是使用 JTAG 电缆、而只使用片上调试器。 我错误地告诉我正在使用外部调试探针。

如果您使用片上 XDS100v2 调试器、则需要将 S1：A 位置 1 设置为高电平 (ON)。  

此致、

马特

如果您使用的是片上 XDS100v2 调试器、则需要将 S1：A 位置 1 设置为高电平 (ON)。  [/报价]

之后、我收到 1135 错误

您好：

您可以尝试在 CCS 中运行连接测试吗？ 这可以通过打开目标配置.ccxml 找到。

您是否也可以尝试使用其他电源？ 可能是新的 USB 电缆或端口。  

此致、

马特

[启动：Texas Instruments XDS100v2 USB 调试探针_0]

执行以下命令：

%CCS_BASE%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile%-rv -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

【结果】

----- 【打印线路板配置路径名】------------------------------------

C：\Users\Suriya\AppData\Local\TEXASI~1\ccs\
ccs1240\0\0\BrdDat\testBoard.dat

----- 【打印重置命令软件日志文件】------------------------------------

该实用程序选择了 100/110/510 类产品。
此实用程序将加载适配器“jioserdesusb.dll"。“。
库构建日期为“2023 年 6 月 2 日“。
库构建时间为“12：47：07“。
库软件包版本为“9.12.0.00150"。“。
库组件版本为“35.35.0.0 “。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为“4"（“(0x00000004)。
控制器的插入长度为“0"（“(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

----- 【打印重置命令硬件日志文件】------------------------------------

通过切换 JTAG TRST 信号、将使扫描路径复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的（不使用电缆）。
该软件针对 FTDI FT2232 功能进行了配置。
控制器无法监测 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监测 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已恰好设置为“0"（“(0x0000)。

----- [从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]-------

没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

----- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源频率]----

没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

----- [在 JTAG IR 和 DR 上执行标准路径长度测试]-------

此路径长度测试使用 64 个 32 位字的块。

JTAG IR 指令路径长度的测试成功。
JTAG IR 指令路径长度为 6 位。

JTAG DR 旁路路径长度的测试成功。
JTAG DR 旁路路径长度为 1 位。

----- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试]------------------------

此测试将使用 64 个 32 位字的块。
该测试仅应用一次。

使用 0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用 0x00000000 执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用 0xFE03E0E2 进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用 0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用 0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用 0xAACC3355 进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。

JTAG IR 完整性扫描测试已成功。

----- [对 JTAG DR 执行完整性扫描测试]--------------------

此测试将使用 64 个 32 位字的块。
该测试仅应用一次。

使用 0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用 0x00000000 执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用 0xFE03E0E2 进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用 0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用 0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用 0xAACC3355 进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。

JTAG DR Integrity scan-test 已成功。

[端：Texas Instruments XDS100v2 USB 调试探针_0]

您还可以尝试使用其他电源吗？ 可能是新的 USB 电缆或端口。  [/报价]

执行此操作后、也得到了相同的 1135 错误。

您好：

测试确认 JTAG 硬件已正确连接。

鉴于 XRSn、VDD 和 VDDIO 始终为低电平（在等待引导期间）、我们可以将其视为电路板的硬件问题。  

此致、

马特

您是否对如何进一步进行此操作有建议？

您好：

鉴于 XRSn、VDD 和 VDDIO 始终为低电平（在等待引导期间）、我们可以将这视为电路板的硬件问题。  [/报价]

您需要检查 电源轨和接地之间是否存在任何可能导致 VDD VDD/VDDIO 始终处于低电平的短路。 C2000Ware 中提供了 controlCARD 的原理图： C2000Ware_6_00_01_00\boards\controlCARDs\TMDSCNCD28388D \Rev.B

此致、

马特

我观察到 GPIO0 和 GND 之间发生了短路。 这是否就是我们收到该错误的原因？

您好：

不、不应该。 它应该只会对该引脚 (GPIO0) 造成损坏。 让我向电路板专家求助、以帮助调试器件。

此致、

马特

尊敬的 Jayasuriya：

该线程上有许多冲突语句。

系统会询问您是否使用外部调试探针。 您提到是、但图片显示您正在使用控制卡上的嵌入式探头、即您已将 USB 电缆连接至控制卡。 请参阅 Matt 的外部调试探针图片作为参考（标记为“XDS110 debug“的黑盒）。

您提到控制卡上的电源点正常、但后来说它们已关闭。  

测试连接结果显示通过结果“JTAG DR Integrity scan-test 已成功。“、但也提到您仍然看到连接错误。

我们需要明确的信息才能提供帮助。  

请分享您的设置的最新图片。 突出显示 S1：A 和 S2 开关设置。 另外、请提供使用此设置时控制卡电源引脚的状态和“测试连接“测试的结果。

是的。 最初我不知道使用外部调试探针。 所以我错误地说我正在使用它。 所以,为了确认我没有使用那黑色的盒子,其中马特提到。  

关于电源、最初在控制卡扩展坞中、在这些地方提到 5V 和 3.3V 时、我从示波器测量得到了正确的电压。 但 VDD（引脚编号 118）和 VDDIO（引脚编号 119）引脚始终为低电平。  

JTAG DR 完整性扫描测试成功。 但我仍然收到以下错误：
Texas Instruments XDS100v2 USB Debug Probe_0/C28xx_CPU1 Error connected to the target：(error –1135 @ 0x0) 调试探针报告了错误。 确认调试探针配置和连接、复位调试探针、然后重试此操作。 （仿真包 20.2.0.3536）。
要解决此问题、我需要您的帮助。


下面给出了设置图和 S1、S2 连接：

在调试 LED 闪烁代码时、在给出上述连接后、我收到了如图中所述的以下错误：

测试连接结果如下：

[启动：Texas Instruments XDS100v2 USB 调试探针_0]

执行以下命令：

%CCS_BASE%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile%-rv -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

【结果】

----- 【打印线路板配置路径名】------------------------------------

C：\Users\Suriya\AppData\Local\TEXASI~1\ccs\
ccs1240\0\0\BrdDat\testBoard.dat

----- 【打印重置命令软件日志文件】------------------------------------

该实用程序选择了 100/110/510 类产品。
此实用程序将加载适配器“jioserdesusb.dll"。“。
库构建日期为“2023 年 6 月 2 日“。
库构建时间为“12：47：07“。
库软件包版本为“9.12.0.00150"。“。
库组件版本为“35.35.0.0 “。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为“4"（“(0x00000004)。
控制器的插入长度为“0"（“(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

----- 【打印重置命令硬件日志文件】------------------------------------

通过切换 JTAG TRST 信号、将使扫描路径复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的（不使用电缆）。
该软件针对 FTDI FT2232 功能进行了配置。
控制器无法监测 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监测 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已恰好设置为“0"（“(0x0000)。

----- [从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]-------

没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

----- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源频率]----

没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

----- [在 JTAG IR 和 DR 上执行标准路径长度测试]-------

此路径长度测试使用 64 个 32 位字的块。

JTAG IR 指令路径长度的测试成功。
JTAG IR 指令路径长度为 6 位。

JTAG DR 旁路路径长度的测试成功。
JTAG DR 旁路路径长度为 1 位。

----- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试]------------------------

此测试将使用 64 个 32 位字的块。
该测试仅应用一次。

使用 0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用 0x00000000 执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用 0xFE03E0E2 进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用 0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用 0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用 0xAACC3355 进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。

JTAG IR 完整性扫描测试已成功。

----- [对 JTAG DR 执行完整性扫描测试]--------------------

此测试将使用 64 个 32 位字的块。
该测试仅应用一次。

使用 0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用 0x00000000 执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用 0xFE03E0E2 进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用 0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用 0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用 0xAACC3355 进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。

JTAG DR Integrity scan-test 已成功。

[端：Texas Instruments XDS100v2 USB 调试探针_0]

测试连接通过这一事实表明 controlCARD 上的 MCU 实际上已通电。 在原始图片中、显示 D5 LED（电路板背面）亮起、表示 controlCARD 中的 VDD_3V3 电源轨亮起。  

您可以通过测量测试点 TP8 和 TP9 上的电压来验证 MCU 电源。

对于为什么 LED 闪烁示例无法加载以及 JTAG 完整性测试通过、我唯一可以想到的是、您可以使用一个 ccxml 文件来运行 JTAG 完整性测试、并使用不同的 ccxml 来加载 LED 闪烁示例。 在 LED 闪烁 CCS 工程文件夹中、应该有一个 ccxml 文件。 请将其打开、然后运行 JTAG 完整性测试。 如果失败、那么您可以将 ccxml 的 Advanced 设置与 LED 闪烁 ccxml 文件进行比较。  

TP8 和 TP10 之间的电压值为 3.3V。 TP9 和 TP10 之间的电压为 1.2V（从万用表进行测量时）。

在 LED blink CCS 工程文件夹中、应该有一个 ccxml 文件。 请打开并运行 JTAG 完整性测试。

这就是我做测试的方式。

好的、controlCARD 上有电源。 我们可以排除硬件问题。  

您能否共享 CCS 窗口的屏幕抓图（包括 LED 闪烁项目中的目标配置文件夹）？ 我想确认 LED 闪烁 ccxml 设置为“active"或“或“default"ccxml。“。

感谢屏幕抓握。 看起来正常。 后续步骤：

-请探测 TP2 (XRSN ):这个信号应该在你打开控制卡后持续高电平。

-请探测 TP6（MCU 时钟）:这里应该有一个 20MHz 时钟信号。