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器件型号：TMS320F280039您好：
我正在使用 FAPI 库对基于 F28003x 的器件中的某些闪存进行现场编程。 我注意到数据表中存在以下警告：
“闪存编程期间的欠压事件可能会损坏闪存数据并永久锁定器件。“ （SPRSP61C、第 6.5.1 节）
我想确保我了解此处的风险。 以下哪项是正确的：
1.闪存编程期间的欠压事件会导致发生部分写入/擦除、这将导致在欠压期间被擦除/编程的存储器区域发生 ECC 故障、这种情况可以通过重新编程或来恢复
2.闪存编程期间的欠压事件可能会导致无法恢复的 ECC 故障,或者除被擦除/编程的区域外的闪存损坏
