请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
您好：
我是一名高级研究员、目前正在开发使用 SM320F2812-SMF12 EP 器件的系统。
我们的应用是电池充电器、当内部温度升高时、会出现与 ADC 转换精度相关的异常行为。
问题描述
在电池充电期间、其他组件产生的热量会导致内部温度升高。
当 MCU 外壳温度超过大约 77°C 时、ADC 转换结果变得越来越不准确。
观察到的异常现象为：
不过、测量的 ADC 值会随着时间的推移而降低
运算放大器输出电压保持高于 ADC 回读值
此外、运算放大器输出电压相对于其输入增加
运算放大器配置为电压跟随器（缓冲器配置）。
我目前的假设
温度升高。
温度升高可能会导致 ADC 输入多路复用器 FET 中出现漏电流。
由于这种漏电流、采样节点上可能会出现压降。
因此、实际 ADC 引脚电压保持高电平、但 ADC 数字值会随着时间的推移而降低。
应用的固件权变措施
我实施了以下修改：
项目 此 值
ADC 时钟 30MHz 15MHz
ADC 采样保持时钟 (ACQ_PS) 16 1.
固件修改原因
这些更改的目的是减小 ADC 采样窗口大小、期望它有助于减轻温度引起的漏电行为。
公钥
请回顾以下几点：
我对温度引起的漏电流影响 ADC 采样精度的假设是否合理。
在这种情况下、是否适合或建议使用应用的缓解策略（ADC 时钟更低和采样窗口更短）。
如果可用、可参考旨在更大限度地减小与温度相关的 ADC 精度漂移的任何设计指南或最佳实践。
提前感谢您的支持。