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[参考译文] TMS320F28379D:AMC3306 SDFM 损坏数据

Guru**** 2689895 points

Other Parts Discussed in Thread: TMS320F28379D, AMC3306M05, LMK1C1103

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1591052/tms320f28379d-amc3306-sdfm-corrupted-data

部件号: TMS320F28379D
主题中讨论的其他器件: AMC3306M05LMK1C1103

您好、

我们正在评估 AMC3306M05、当在特定占空比下从 TMS320F28379D MCU 恢复时、或电流方向发生变化时、我们似乎在控制环路中遇到噪声问题。 我们使用 EPWM 来同步传感、并将比较值设置为估算我们使用的 SINC2 OSR128 滤波器的延迟。 我们正在使用 SDFM 限定的 GPIO 3 样本选项来消除干扰、但它没有影响我们的情况。 我们已经用 500MHz 光学隔离探头直观地查看了数据、看不到 TMS320F28379D 波形的数据输入有任何明显波动。 然而、当通过 SDFM 对信号进行滤波时、我们会接收到信号中的阶跃响应。

我将其发布到 SDFM 论坛、观察结果是 AMC3306 按预期工作。 我已经检查了开关电桥上的栅极信号、这个信号似乎没有影响、他们会看到 MCU SDFM 输入读取的阶跃响应。 (请参阅主题:e2e.ti.com/.../amc3306m05-q1-sdfm-data-glitch-occuring)

我们如何确定是否存在与 CLK/数据输入上的时序违规与噪声相关的干扰? 他们是否有任何建议来验证 SDFM 出现故障?

image.png

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    您好、Noah:

    您提到过、您查看了“数据、但看不到数据输入出现任何实质性波动“。 您是否还可以在 MCU 引脚处探测时钟?

    当使用 GPIO 异步时、Dx_Cy 直接为 SDFM 提供时钟、而超过 VIH/VIL 的振铃会损坏 SDFM 并导致不可预测的结果。 这可能会在滤波输出中突然出现阶跃、因为单个额外/缺失的时钟边沿会有效地使抽取流“混叠“。

    此外、确保 PWM 是自由运行的(不是其他地方可能会被占空比更新或同步事件暂时干扰的时钟)。

    此致、

    Masoud

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    尊敬的 Masoud:

    这是来自 SDFM DOUT 的数据。 我们研究了 MCU 的滤波器、可以看到黄色电压正在缓慢降低、这可能是因为相电流正在减小。 然后、当为供电的相位发生变化时、会出现干扰、但 DOUT 数据看起来干净一致、如 MEAS9/10 所示

     跳转周期之前的图像 1:CH1 DACA PH B 电流、CH4-6 相电流、通道 7 PHB 输入至 AMC3306M05、CH8 数据来自 SDFM

    图像 2 跳变周期:CH1 DACA PH B 电流、CH4-6 相电流、通道 7 PHB 输入至 AMC3306M05、CH8 数据来自 SDFM

    我们昨天还验证了 SDFM CLK、并且 CLK 看起来与 LMK1C1103PWR 的输入一致。 请参阅随附的 SDFM CLK 图像。 PWM 为 ePWM12、与控制环路或与任何其他信号的同步不相关。 我在 25GS/s 下没有看到任何明显的振荡

    LMK1C1103PWR 在查看数据表时、可为通道数提供额外的电容、且不使用指定的铁氧体磁珠。 我们可以添加该点、但正如我之前所说、它们确实与相位交叉点保持一致、这就是将生成大部分 CM 的位置。 上面的第一个帖子是追溯到 SDFM 滤波器的控制环路传播。 我认为我们非常接近正确的采样时间、但我们的 CLA 现在已由软件触发、我认为应该触发 ePWM1INT、以便针对该应用的控制环路和所有其他 ePWM 同步。  

    图 3:MCU 的 SD_CLKI 和 LMK1C1103 的 SD_CLKO_B

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    您好、Noah:

    对迟交的答复表示歉意! 许多团队成员今年的这个时候都不在办公室。

    我的理解是、 使用示波器时、您没有看到 S Dx_Dy 上出现明显的损坏、但您确实会看到 SINC2/OSR128 滤波器之后出现间歇性阶跃行为、尤其是在开关事件 和电流方向变化方面。


    即使 DOUT 看起来正常、S Dx_Cy(时钟)也会损坏 SDFM。  在 F2837xD 上、SDFM 时钟输入 (S Dx_Cy) 可以直接为 SDFM 模块计时(在异步模式下无内部同步)。 勘误表会明确警告、超过 S Dx_Cy 上 VIH/VIL 的干扰/振铃可能会损坏 SDFM 并导致不可预测的结果。

    请在 MCU 引脚(不仅在源极上)处探测 Dx_Cy、并特别查找在开关边沿期间越过 VIH/VIL 的矮脉冲/振铃。 这可能非常窄、并且对于数字输入仍然是真实的。 此外 、您还可以在时钟驱动器处添加串联终端、并使 SDCLK 远离高 dv/dt 节点。

    同样的勘误表建议在有噪声的条件下使用 SDFM GPIO 认证(3 样片)、因为它同时过滤 S Dx_Cy 和 S Dx_Dy。 另外、需要指出的是、在使用鉴定数据表表时、您必须遵循 SDFM 时序要求。

    因此、如果您启用了“合格的 GPIO 3 样片“但没有看到改进、请仔细检查是否实际应用了用于 S Dx_Cy 和 S Dx_Dy 的引脚的鉴定、并确认您的 SDCLK 频率+鉴定设置满足数据表的合格输入时序。  

    如果“Synchronize Sensing with ePWM“包括使用 PWM FILRES 复位/同步 SDFM 数据滤波器、则有一个勘误项:滤波器稳定之前可能会发生虚假数据确认 (AFX)。 权变措施包括确保在 FILRES 之后≥1.2µs 发生 CPU/CLA 中断、并相应地清除 SDIFLG。

    此致、

    Masoud