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器件型号： F28377D-SEP
尊敬的团队：
我使用 Simulink 在 F28379D LaunchPad 上运行简单的 ADC–DAC 环回测试。
在该器件上、DACOUTA 和 ADCINA0 被路由到相同的物理引脚 (J3、引脚 30)、因此我在 Simulink 模型中选择了相应的配置。 将常量值写入 DAC、其输出在内部环回 ADC、并比较原始 DAC 和 ADC 计数。
在较低的 DAC 电压条件下、观察到的 DAC 值和 ADC 读数之间的差值约为 25–40 个计数。 但是、随着 DAC 输出电压的增加、该差异会增加到大约 90–110 个计数。
我知道、由于噪声和非理想因素、ADC 读数可能与 DAC 输出不完全匹配。 不过、我期望偏移在整个范围内保持相对恒定。 相反、误差似乎随电压的增加而增加。
在 F2838x 器件上运行相同的测试时也观察到了类似的趋势。
为什么这种差异与在此 ADC - DAC 环回设置中观察到的电压越来越大？
我已附上 ADC–DAC 环回测试结果以供参考： ADC DAC 环回 Test.xlsx
此致、
Raghavendra
