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[参考译文] TMS320F28379D:MCU 复位

Guru**** 2805935 points

Other Parts Discussed in Thread: UNIFLASH

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1600380/tms320f28379d-mcu-reset

部件号: TMS320F28379D
Thread 中讨论的其他器件: UNIFLASH

Hello Forms、


使用增量角度使用 sinePWM 进行测试时。  MCU 停止工作、选中后、MCU 集在 100Hz (10ms) 下发生、关断持续时间为 55.2us。

参考图像:  
a) 完全复位映像
通道 1:VDD3V  
Channel2:MCU-RST  
b1d0ff0a-8592-417b-8934-7a9b33b3e1b7.jpg

b) 关断时间重置图像:
通道 1:VDD3V  
Channel2:MCU-RST  
2fa1ad8a-f4c7-416f-962c-19c015a750e2.jpg

b) 相对于示波器图像:
通道 1:VDD3V  
Channel2:MCU-RST  
Channel3:外部振荡器
b1dfb5e1-2895-4cf5-98a6-59622f461294.jpg


提前感谢、
Soumitri Kumar。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Hello Forms、

    在上述情况下、

    我现在找不到 MCU 复位、但无法将代码刷入其中。 当使用 XDS100v2 连接到 FLASH 代码并将其插入时、会显示以下错误。

    其中、
    通道 1:MCU 内核电压 —  1.2V
    通道 2:MCU 复位信号 —   3.3V
    通道 3:MCU 输入电压 —  3.3V

     

    如下所示。


    为了解决上述问题、我尝试将 JTAG 时钟频率降低到 500kHz、然后尝试使用 CCS 和 UniFlash 连接它。
    CCS 配置:



    因此、我尝试使用“Test Connection“、看看问题是否出在板/编程器上。

    下面是它的结果。

    ----- 【打印线路板配置路径名】------------------------------------ C:\Users\Lenovo~1\AppData\Local\TEXASI~1\ ccs2011\0\BRDDATAC\testBoard.dat -- 【打印重置命令软件日志文件】------------------------------------ 该实用程序选择了 100/110/510 类产品。 此实用程序将加载适配器“jioserdesusb.dll"。“。 库构建日期为“2025 年 3 月 19 日“。 库构建时间为“10:02:15“。 库软件包版本为“20.1.0.3429"。“。 库组件版本为“35.35.0.0 “。 控制器不使用可编程 FPGA。 控制器的版本号为“4"(“(0x00000004)。 控制器的插入长度为“0"(“(0x00000000)。 此实用程序将尝试重置控制器。 此实用程序已成功重置控制器。 ----- 【打印重置命令硬件日志文件】------------------------------------ 通过切换 JTAG TRST 信号、将使扫描路径复位。 控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。 从控制器到目标的链路是直接的(不使用电缆)。 该软件针对 FTDI FT2232 功能进行了配置。 控制器无法监测 EMU[0]引脚上的值。 控制器无法监测 EMU[1]引脚上的值。 控制器无法控制输出引脚上的时序。 控制器无法控制输入引脚上的时序。 扫描路径链路延迟已恰好设置为“0"(“(0x0000)。 ----- [从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]------- 没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。 ----- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源频率]---- 没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。 ----- [在 JTAG IR 和 DR 上执行标准路径长度测试]------- 此路径长度测试使用 64 个 32 位字的块。 JTAG IR 指令路径长度测试失败。 然后多个 1 和多个 0 的测试长度为 1760 位。 经过多个零和多个 1 测试的长度为–2016 位。 JTAG DR 旁路路径长度测试失败。 然后多个 1 和多个 0 的测试长度为 1472 位。 经过多个零和多个 1 测试的长度为–2016 位。 ----- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试]------------------------ 此测试将使用 64 个 32 位字的块。 该测试仅应用一次。 使用 0xFFFFFFFF 进行测试。 扫描测试:1、跳过:0、失败:0 使用 0x00000000 执行测试。 测试 2 字 0:扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。 测试 2 字 1:扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。 测试 2 字 2:扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。 测试 2 字 3:扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。 测试 2 字 4:扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。 测试 2 字 5:扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。 测试 2 字 6:扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。 测试 2 字 7:扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。 前 8 个错误的详细信息已提供。 实用程序现在将只报告失败测试的计数。 扫描测试:2、跳过:0、失败:1 使用 0xFE03E0E2 进行测试。 扫描测试:3、跳过:0、失败:2 使用 0x01FC1F1D 执行测试。 扫描测试:4、跳过:0、失败:3 使用 0x5533CCAA 执行测试。 扫描测试:5、跳过:0、失败:4 使用 0xAACC3355 进行测试。 扫描测试:6、跳过:0、失败:5 部分值已损坏 — 77.3%。 JTAG IR 完整性扫描测试失败。 ----- [对 JTAG DR 执行完整性扫描测试]-------------------- 此测试将使用 64 个 32 位字的块。 该测试仅应用一次。 使用 0xFFFFFFFF 进行测试。 扫描测试:1、跳过:0、失败:0 使用 0x00000000 执行测试。 测试 2 字 0:扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。 测试 2 字 1:扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。 测试 2 字 2:扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。 测试 2 字 3:扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。 测试 2 字 4:扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。 测试 2 字 5:扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。 测试 2 字 6:扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。 测试 2 字 7:扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。 前 8 个错误的详细信息已提供。 实用程序现在将只报告失败测试的计数。 扫描测试:2、跳过:0、失败:1 使用 0xFE03E0E2 进行测试。 扫描测试:3、跳过:0、失败:2 使用 0x01FC1F1D 执行测试。 扫描测试:4、跳过:0、失败:3 使用 0x5533CCAA 执行测试。 扫描测试:5、跳过:0、失败:4 使用 0xAACC3355 进行测试。 扫描测试:6、跳过:0、失败:5 部分值已损坏 — 80.7%。 JTAG DR 完整性扫描测试失败。

    谢谢、
    Soumitri

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    扫描完整性测试失败、这意味着硬件存在某种问题。 请对 JTAG 信号进行信号完整性检查、并确保通过。