[参考译文] TMS320F280039：XDS110ISO-EVM 调试探针 CAN&&#39；t 连接 F280039、&quot；Test Connections&quot；失败

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https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1610526/tms320f280039-xds110iso-evm-debug-probe-can-t-connect-with-f280039-test-connections-fails

器件型号： TMS320F280039
主题中讨论的其他器件： XDS110ISO-EVM

在我的开关电源项目中、我使用具有 64 个引脚的 F280039 MCU。 对于 JTAG 连接、我遵循了您的硬件设计指南、并提供了相应的拉电阻器、并且 MCU 和 JTAG 接头之间的距离很短、但目前我不使用高电压工作、为了进行调试、我打算使用 XDS110ISO-EVM 调试探针。 目标连接由隔离式 JTAG 连接器 (J3) 完成。

使用正常但未隔离的 XDS110、我可以刷写和调试代码。 但是、使用 XDS110ISO-EVM 调试探针时无法连接到目标。 即使 Code Composer Studio 中的高级功能“Test Connections“失败、也会抛出以下错误消息：

----- 【发生错误，此实用程序已中止】------------------------ 此错误由 TI 的 USCIF 驱动程序或实用程序生成。 值为“-233"（–233(0xffffff17“0xffffff17)。 标题为“C_ERR_PATH_BROKEN “。 解释为：JTAG IR 和 DR 扫描路径无法循环位、它们可能会损坏。 尝试扫描 JTAG 扫描路径失败。 目标的 JTAG 扫描路径似乎已断开、出现卡滞在 1 或零故障。

我对两个调试探针使用完全相同的.ccxml 文件。 我的全新 XDS110ISO-EVM 是否可能已损坏？ 或者、我是否需要一个与非隔离式 XDS110 文件不同的.ccxml 文件？

如果连接了 USB 和目标、则 LED 2、3、4 和 6 会亮起。 当我尝试连接到目标或执行“Connection Test“时、LED1 会开始闪烁、但无法建立连接。

 我是否应该提供一些 JTAG 信号示波器跟踪？