[参考译文] TMS320F28379D：诊断库

尊敬的 Marvin：

对延迟的回复表示歉意：

您找到的 C2000-C2000Ware 实际上是一个与 SAFETI-DIAGNOSTICS-LIB 分开打包的较旧版本。 在较新的版本中、诊断库已作为标准包的一部分直接集成到 C2000Ware 中。

诊断库仍在主动维护和验证以与最新的 C2000Ware 版本配合使用。 它现在包含在 C2000Ware 中、而不是作为单独的下载内容分发。

请参阅以下路径：

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此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：

谢谢你。

我有一个有关 HWBIST 的后续问题。

我知道 HWBIST 支持两种类型的测试：STL_HWBIST_99_SAF 和 STL_HWBIST_95_LOS。 在测试过程中、我观察到以下行为：
•对于 STL_HWBIST_95_LOS、在 bistDone 被设置为 1 之前、函数 STL_HWBIST_runMicroTest () 被调用大约 1700 次。
•对于 STL_HWBIST_99_SAFF、在 bistDone 设置为 1 之前仅调用大约 300 次同一函数。

根据我的理解、实现 99%的故障覆盖率应该需要比 95%更广泛的测试。 因此、我担心仅执行大约 300 次微测试迭代可能不足以达到 99%的覆盖率。

请您帮助澄清一下：
为什么 STL_HWBIST_99_SAF 的微测试迭代次数明显低于 STL_HWBIST_95_LOS？
如何使用此迭代次数来确保 99%的覆盖率？

尊敬的 Jagadish：

我想请求提供有关后续问题的最新情况。

谢谢、

Marvin

除了 1700 外、还需要运行 300 个图案、达到 95%、才能达到 99%。 预期流程是让您将 HWBIST 初始化为 95%模式、完成所有 1700 次微运行、将 HWBIST 重新初始化为 99%模式、并完成额外的 300 次微运行。 最后、您将总共运行 2000 次微运行、达到 99%。

Whitney

尊敬的 Jagadish：

对于  C2000Ware、诊断库仅 包含 f2838x、而不是 f2837x。 你能帮助检查 Agaiin 吗?

此致、

Marvin

遗憾的是、当前的 C2000Ware 诊断库不支持 F2837x、但您可以移植 F2837x 版本以使用较新的 C2000Ware 版本、并使用 F2838x 作为有关需要进行哪些更改的指南。 两个器件上存在的大多数模块基本相同、但 HWBIST 除外、该模块在 F2837x 上的流程略有不同。

Whitney

您好 Whitney、

感谢您的回答。

您是否有计划在未来版本中更新 2837x 的内容？ 但是、2837x 的当前版本 1.0 具有一些与最新 TI 测试板不同的内容。 我发现版本 1.0 中的某些内容与 TI 测试板不匹配。 例如、晶体振荡器频率。 测试版本为 10MHz、但在代码中为 20MHz。 还有其他一些问题、但我不能在这里描述所有这些问题。 是否有任何其他错误？ 2837x 的版本 1.0 真的太旧了；诊断库内容中是否有任何漏洞？

此致、

Marvin

我们目前没有更新计划。 我认为有些 driverlib 模块自 v1.00.01 起重命名了定义/函数、建议从 COFF 迁移到 EABI、但除此之外、迁移到较新版本的 C2000Ware 不需要进行许多更改。 我正在努力访问 F2837x SDL 的错误列表、如果有任何已知问题、我将告知您。

我可以询问您使用的测试板吗？ 回想一下、库示例旨在与始终具有 20MHz 振荡器的 controlCARD 电路板搭配使用。 而是使用 LaunchPad 吗？

Whitney

您好 Whitney、

是的、目前使用的是 LaunchPad

Marvin