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[参考译文] TMDSEMU200-U:TMS320F28388D:XDS200 调试器的重复硬件故障与 XDS100v2/v3 的稳定性

Guru**** 2864540 points

Other Parts Discussed in Thread: TMS320F28388D, TMDSEMU200-U

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1635320/tmdsemu200-u-tms320f28388d-repeated-hardware-failure-of-xds200-debuggers-vs-xds100v2-v3-stability

器件型号: TMDSEMU200-U
主题中讨论的其他器件: TMS320F28388D

您好:

连接到定制 TMS320F28388D 系统时、XDS200 调试器在一周内出现了两次硬件故障。

环境:

  • 目标:F28388D(使用标准的 TI 14 引脚 JTAG 接头)。

  • 比较:此精确硬件上使用 XDS100v3 和 XDS100v2 的时间超过 18 个月、未出现问题。

  • 验证:我已经确认 PC、PSU 和目标板之间没有接地环路。

问题:XDS200 器件在一段时间后发生故障(无法正常工作/无法识别)。 它工作了几天 (2-3) 然后停止。 而 XDS100 系列保持稳定。

问题:

  1.  与 XDS100 系列相比、XDS200 是否对电源时序更敏感?

  2. XDS200 更快的开关速度是否需要针对 F2838x JTAG 线路的特定阻抗或 ESD 保护要求?

  3. 与 F28388D 连接管理器配合使用时、XDS200 输出缓冲器中是否存在已知漏洞?

感谢您的回答、

Luca.

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    您好:

    这是不寻常的。 我怀疑 XDS100 系列速度较慢且性能要求较低、更容易接受边缘复位时序。 XDS200 的更高性能使其更容易受到这些边缘条件的影响。

    您能否确认这是 Spectrum Digital 还是 Blackhawk 产品? 您还能分享一下 JTAG 原理图吗?

    此致、
    马特

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    尊敬的 Matt:

    这是一个 Blackhawk 模型。

    我附上了原理图的 JTAG 部分。 有关实现的一些注意事项:

    • 我在 EMU 和 TRSTn 线路上使用 2.2k 上拉/下拉。

    • TCK 线路上有一个用于噪声滤波的 220pF 电容器 (C111)。

    • TDO 上存在一个 33 欧姆串联电阻、但其他 JTAG 线路是直接连接的。

    此致、
    Luca.

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    您好:

    它是 Blackhawk 模型。

    感谢您的确认。 由于 Blackhawk 产品出现硬故障、我建议联系他们的技术支持热线: https://www.blackhawk-dsp.com/company/contacts

    [报价 userid=“605530" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1635320/tmdsemu200-u-tms320f28388d-repeated-hardware-failure-of-xds200-debuggers-vs-xds100v2-v3-stability/6305259

    我附上了原理图的 JTAG 部分。 有关实现的一些注意事项:

    • 我在 EMU 和 TRSTn 线路上使用 2.2k 上拉/下拉。

    • TCK 线路上有一个用于噪声滤波的 220pF 电容器 (C111)。

    • TDO 上存在一个 33 欧姆串联电阻、但其他 JTAG 线路是直接连接的。

    [/报价]

    一些注意事项:

    原理图显示了 TRSTn 上的 C111、而不是 TCK。 如果 C111 在 TCK 上、 添加 220pF 将降低边沿速率、并可能导致时序违例、尤其是在较高的时钟频率下。  通常、JTAG 设计可避免 TCK 上的电容、因为时钟线路上的噪声滤波通常是使用串联电阻器或铁氧体磁珠而不是并联电容器完成的。  如果您的目标是提供 ESD/EMI 保护、请考虑 TVS 二极管或铁氧体磁珠等不会严重降低信号完整性的替代方案。

    我们还建议 在 TMS 上设置一个 2.2k 上拉至 3V3、以便在正常运行期间将 JTAG 保持在复位状态。

    此致、
    马特

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    尊敬的 Matt:

    我懂了。 为了进行澄清、我在此处发帖是因为我们的供应商支持团队特别要求我咨询 TI C2000 专家来验证我的目标端设计。

    关于原理图、您是正确的:C111 在 TRSTn 上、而不是 TCK 上。

    除了您建议为 TMS 添加一个 2.2k 上拉电阻外、该 JTAG 实现是否看起来可与 XDS200 配合使用? 我想确认这里是否有任何设计缺陷可以解释两个探测器发生故障的原因、或者我是否应该返回 Blackhawk 以得出目标硬件在规格范围内的结论。

    此致、
    Luca.

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    尊敬的 Luca:

    我们通常不建议在 TRSTn 或 JTAG 的 VDDIO 上使用电容器(请确认额外的 VDDIO 电容保持在数据表规格范围内)、但这不会导致 XDS200 出现硬故障(大多数情况下可能存在目标连接问题)。 除此之外、目标连接侧没有严重的缺陷、这就说明了两个探头出现故障的原因、没有 ESD/EMI 噪声影响或电源 GND 短路。 我会注意到我不熟悉您的 JTAG 接头(似乎并不是 ARM 10 引脚)、另请仔细检查 XDS200 的信号映射是否正确。

    此致、
    马特

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    尊敬的 Matt:

    感谢您对此主题的持续支持。

    我写信给您是因为我们目前正在与我们的分销商 (Mouser) 就故障 XDS200 器件的退货事宜进行沟通。

    根据我们在这里进行的技术交流、我们确认:

    1. 我们的应用与 TMDSEMU200-U 兼容

    2. 我们的设置和使用过程是正确的、并遵循 TI 指南(尤其是考虑到我们使用 XDS100v2/v3 已有多年没有此类故障)。

    分销商拒绝故障分析的原因是他们声称 TI 尚未“正式确认“器件有缺陷。 他们正在特别寻找一种陈述、表明由于故障排除排除了应用程序级问题、硬件故障可能是由于组件缺陷或不合规批次造成的。

    您能否就此提供总结反馈? 具体而言、如果您可以确认:

    • 到目前为止执行的故障排除表明我们没有滥用。

    • 在同一环境(其他模型工作正常)中多个器件发生故障表明调试器本身存在硬件问题。

    此外、我们还有一个完全相同的装置(序列号:[TC65864])、在完全相同的设置中运行良好、这进一步证明问题是特定于故障装置、而不是我们的应用。

    您的确认对我们继续进行退货流程至关重要。

    此致、

    Luca.

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    您好:

    [报价 userid=“605530" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1635320/tmdsemu200-u-tms320f28388d-repeated-hardware-failure-of-xds200-debuggers-vs-xds100v2-v3-stability/6315219
    • 到目前为止执行的故障排除表明我们没有滥用。

    • 在同一环境(其他模型工作正常)中多个器件发生故障表明调试器本身存在硬件问题。

    [/报价]

    是的、我可以确认以上内容。 提供的 TMDSEMU200-U 用法可能会导致连接问题、而不是直接探头故障。 这表明这是由故障硬件引起的。  

    此致、
    马特