[参考译文] TMS320F280049C：使用 CLA 任务时 EFT 测试期间缺少 ADC 中断

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https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1645867/tms320f280049c-adc-interrupt-missing-during-eft-testing-while-using-cla-task

器件型号： TMS320F280049C

尊敬的专家：

我正在 为编码器应用使用 TMS320F280049C。 我遇到了一个问题、即 ADC 中断（触发到 CLA） 在 EFT（电气快速瞬变）噪声测试期间偶尔会丢失。

系统配置：

• 触发源： EPWM（周期：62.5us）

• 处理： CLA 任务 1 处理 ADC 结果。

• ADC 配置： ADC SOC 配置为从 SOC0 到 SOC7 的轮询模式

• ADC 设置：  INTPULSEPOS = 1 （延迟脉冲） ADCINTSEL 由 SOC7 触发。

• 嵌套： C28x 中无中断嵌套。

• EFT 设置
  

症状：

1. 在 EFT 噪声期间、CPU 中断（与 ADC 触发器同步）仍会正确触发、从而确认触发源 (EPWM) 处于活动状态。

2. 但是、ADC 会停止向 CLA 生成中断。

3. “跳过周期“现象：在干扰期间、系统呈现“通过 — 失败-通过“模式。 ADC 在第 1 个周期成功触发 CLA、在第 2 个周期失败、并在第 3 个周期恢复。

4. 确认 CLA 任务 1 在下一次触发之前完成其上一次执行。

问题 1： 由于 EFT（电气快速瞬变）干扰、内部 ADC 序列发生器或数字逻辑是否可能进入未定义的状态或“闩锁“？ 具体来说、即使触发源保持有效、噪声是否会导致 ADC 停止生成 EOC（转换结束）- ADCINT 脉冲？

问题 2：用于根本原因分析的诊断寄存器快照 在中断缺失的情况下、应监控哪些特定寄存器以确定故障位置？ 我特别想通过寄存器值区分以下情况：

• 触发损失： （例如，检查和） ADCSOCFLG1 ADCSOCOVF1

• 模拟断电： （例如，意外清除中的） ADCPWDNZ ADCCTL1

• 中断阻止： （例如，分析和之间的交互） ADCINTFLG ADCINTOVF

问题 3：缓解和快速恢复机制 (< 62.5µs) 是否有建议的硬件配置或软件“看门狗“模式来确保 ADC 针对 EFT 的稳健性？ 此外、如果检测到故障、是否有记录在案的高速重新初始化或“重试“过程可以在一个控制周期内恢复 ADC 操作（例如，对于 16kHz 环路、< 62.5µs） ？

此致、
螺栓