器件型号： TMS320F2800157-Q1
您好的团队、
我向我的客户询问这个问题。
我们的 TRM 中介绍了闪存 single-bit 错误、但我找不到它提到的寄存器、也找不到 SDK 的 hw_flash.h 文件中的寄存器定义
客户正在进行一位错误注入测试（不使用 ECC 测试模式）、他们会发现在注入一位错误并读取后、错误计数增加、但读回的数据自动不正确、您能帮助提出可能导致这种情况的原因吗？
BRS
Shuqing
您好的团队、
对此有任何更新？
在客户的功能安全设计中、它将执行 ECC 测试（按照我们的 SDL 演示：sdl_ex_flash_ecc_test） 、成功通过此 ECC 测试。 然后、它们需要特意注入 single-bit 错误、并读回以检查数据是否正确。
他们的测试显示在下面:他们将首先擦除它
读取此地址后、他们可以看到器件检测到 single-bit 错误 CERRCNT Add1、但不会自动校正数据 (FLASH_DATA)。
ECC 已启用、为什么不更正？
如果因为他们的测试操作错误、您能告诉我如何注入 single-bit 错误并对其进行测试吗？
BRS
Shuqing
您好 Alex、
我会让客户等待一段时间、然后再读回
您是否删除了答案？
此外、我尝试在不擦除的情况下对相同地址进行编程、这是无法正常工作的、闪存 API 将返回错误
您能帮助检查任何其他方法来测试 ECC 吗？（除了使用 ECC 测试模式之外）
BRS
Shuqing
