器件型号： TMS320F28335
大家好！
我正在尝试调试控制器、 但不幸的是、下面的误差来了。
有人能帮我吗？
连接到目标时出错：
（错误–1135 @ 0x0）
调试探针报告了错误。 确认调试探针配置和连接、复位调试探针、然后重试此操作。
（仿真包 20.0.0.3178）
CCS12 来完成的、也已在 CCS4 中尝试。 同样的误差。 但我已经被骗了很长时间了。 所有的尝试都是成功的,但最近,它发生了。
然后我买了新的 XDC100V2 Blackhawk。 但同样的错误...
下面显示了目标配置窗口的测试结果
[开始：Texas Instruments XDS100v2 USB 调试探针]
执行以下命令：
%CCS_BASE%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile%-rv -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity
【结果】
----- 【打印线路板配置路径名】------------------------------------
C：\Users\admin\AppData\Local\TEXASI~1\ccs\
ccs1281\0\0\BrdDat\testBoard.dat
----- 【打印重置命令软件日志文件】------------------------------------
该实用程序选择了 100/110/510 类产品。
此实用程序将加载适配器“jioserdesusb.dll“。
库构建日期为“STEP 26 2024“。
库构建时间为“10：09：41“。
库软件包版本为“20.0.0.3178“。
库组件版本为“35.35.0.0 “。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为“4“(0x00000004)。
控制器的插入长度为“0“(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
----- 【打印重置命令硬件日志文件】------------------------------------
通过切换 JTAG TRST 信号、将使扫描路径复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的（不使用电缆）。
该软件针对 FTDI FT2232 功能进行了配置。
控制器无法监测 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监测 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已恰好设置为“0“(0x0000)。
----- [从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]-------
没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。
----- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源频率]----
没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。
----- [在 JTAG IR 和 DR 上执行标准路径长度测试]-------
此路径长度测试使用 64 个 32 位字的块。
JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在 1 位置。
JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡滞。
----- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试]------------------------
此测试将使用 64 个 32 位字的块。
该测试仅应用一次。
使用 0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用 0x00000000 执行测试。
测试 2 字 0：扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。
测试 2 字 1：扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。
测试 2 字 2：扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。
测试 2 字 3：扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。
测试 2 字 4：扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。
测试 2 字 5：扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。
测试 2 字 6：扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。
测试 2 字 7：扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。
前 8 个错误的详细信息已提供。
实用程序现在将只报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用 0xFE03E0E2 进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用 0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用 0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用 0xAACC3355 进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
其中一些值已损坏 — 83.3%。
JTAG IR 完整性扫描测试失败。
----- [对 JTAG DR 执行完整性扫描测试]--------------------
此测试将使用 64 个 32 位字的块。
该测试仅应用一次。
使用 0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用 0x00000000 执行测试。
测试 2 字 0：扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。
测试 2 字 1：扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。
测试 2 字 2：扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。
测试 2 字 3：扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。
测试 2 字 4：扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。
测试 2 字 5：扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。
测试 2 字 6：扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。
测试 2 字 7：扫描出 0x00000000 并在 0xFFFFFFFF 中扫描。
前 8 个错误的详细信息已提供。
实用程序现在将只报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用 0xFE03E0E2 进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用 0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用 0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用 0xAACC3355 进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
其中一些值已损坏 — 83.3%。
JTAG DR 完整性扫描测试失败。
[结束：Texas Instruments XDS100v2 USB 调试探针]
