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[参考译文] TMS320F28027:波形输出问题

Guru**** 2551110 points
Other Parts Discussed in Thread: TIDM-HV-1PH-DCAC, SFRA

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1078526/tms320f28027-waveform-output-issue

部件号:TMS320F28027
《线程》中讨论的其他部件:TIDM-HV-1PH-DCACSFRATEST

大家好,团队

客户提出的问题可能需要您的帮助:

输出为50Hz,切换频率为20K,芯片在中断时正忙于浮点操作。 客户参照斜率和正弦计算将期间值相乘,并使用200个数组元素进行反相半周期数组,数组中的值根据电压源 TIDM-HV-1PH-DCAC 项目下的代码进行计算。

问题:

1) 蓄电池电压为48 V,调制比小于1,反相输出波形为50 Hz,但每半波的前半部分异常,请参见下图:

2)是否可以提供该项目板输出的开环控制波形?  

未使用 SFRA 控件,开路代码如下所示:

#IF (INCR_Build ==1)//开放循环检查
//-------------
#IF (DC_CHECT=1)
InvDutyPU = SFRA_F32_Inject (invModIndex);
#else
InvDutyPU = SFRA_F32_Inject (InvSine * InvModIndex);
#endif
#endif //(INCR_Build == 1)

它们直接变为:invDutyPU =invSine * invModIndex;

请帮您检查此案例? 谢谢。

此致,

樱桃

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    你好,Cherry,

    您能详细说明您提到的内容吗? 您是否有客户想要实施的阻挡图或波形?  

    客户参照斜率和正弦计算将周期值相乘,并使用200个数组元素进行反相半周期数组,数组中的值根据电压源 TIDM-HV-1PH-DCAC 项目下的代码进行计算”

    实验1设计用于开环操作。 invDutyPU =invSine * invModIndex 正确。

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    约翰:

    感谢你的帮助。  

    [引用 userid="425734" url="~/support/icros/c2000-icroms-group/c2f/c2000-微控制器-forume/1078526/tms320f28027-波形输出-问题/3992307#3992307"]您能否详细描述您提到的内容?

    20K 50Hz 反相波形。 波形就像每次通过零时的振荡。 反相波形分为正波和负波。 正负接线为零位置。 此时,H 形电桥的功率输出方向发生变化,PWM 脉冲宽度逐渐增大,形成反相波形的上升边缘,但上升边缘不光滑。

    这与什么有关? 或者是什么原因造成了这种情况? 无负载波形如上所示,波段波形略平滑。

    [引用 userid="425734" url="~/support/icins/c2000-icro-group/c2f/c2000-微控制器-forum/1078526/tms320f28027-波形输出-问题/3992307#3992307"] 荷兰语 PU =invSine * invModIndex 正确。

    客户刚刚这样做,但会出现以上异常波形。 我们是否可以知道 PWM 输出的问题在哪里?

    谢谢,此致,

    樱桃

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    你好,Cherry,

    控制回路是如何设计的? 它是否与参考设计相同?

    此外,输入和输出电压是多少?

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    约翰:

    很抱歉耽误您的反馈。

    [引用 userid="425734" url="~ë/support/icontrs/c2000-icro-group/c2f/c2000-微控制器-forum/1078526/tms320f28027-波形输出-问题/3994272#3994272]\n 控制环路的设计方式是什么? 它是否与参考设计相同?

    基本上是一样的。

    但它们会从连续捕获中减去每个反相输出,以获得实际数据,而不考虑 AD 偏差。

    谢谢,此致,

    樱桃

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    您好,

    我是否可以知道有任何更新? 谢谢。

    此致,

    樱桃

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    你好,Cherry,

    我无法在测试设置中重复此操作。 MCU 型号不同,软件已移植到不同的设备。

    如另一个线程中所述,支持定制设计的能力有限。

    最佳

    约翰