本线程中讨论的其他部件:controlSUITE, LM4132, OPA320, OPA350, OPA365, REF5050, LMC6482
您好,
我在自己的定制PCB上使用F2.8377万D硅版本C。 我已配置为采样10个模拟输入,这些输入被分配到3个ADC (4+3+3)。 每个模拟输入都通过RC滤波器提供给控制器引脚(R - 47欧姆,C - 33pf)。测试时, 我使用电池和电阻分压器网络对所有输入短路并提供可变电压。ADC时钟配置为25 MHz,采集窗口在12位单端模式下设置为400 ns。以下是观察结果。
当连续采样所有10个输入(使用controlSUITE中的示例软件)时,结果的平均值会随着电压增加到满刻度3.3V而下降, 在平均值上观察到约150个计数的噪声。当 对给定特定ADC的单个输入或一组输入进行采样时,噪声计数将减少到20。
2,对两个ADC的输入组进行采样时,噪声增加到150次。
3.然后,所有ADC的SOC都使用Timer1 @16kHz频率, 然后噪声计数减少到20,但在第一种情况下,结果的平均值会随着电压增加到满刻度3.3V而下降。 采样单个输入时,平均值接近给出的实际输入。
当我更改ADC时钟和/或采集窗口时,这种现象没有得到改善。
请帮助我了解 正在发生的情况,并建议是否为ADC执行任何正确的配置。
