• 状态 Resolved
  • 已锁定 已锁定
  • 回复 7 回复
  • 订户 1 订户
  • 视图 572 视图
  • 用户 0 会员在此处
选项
选项
相关

This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] TMS320F2.8377万D：IEC6.073万 B类：表H.1:'内部数据路径'和'内部数据地址'，F2.8377万D中的目标块在哪里？

admin
Guru**** 2382630 points
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/630350/tms320f28377d-iec60730-class-b-table-h-1-internal-data-path-and-internal-data-address-where-are-the-target-blocks-in-the-f28377d

部件号：TMS320F2.8377万D
主题中讨论的其他部件：IEC6.073万SWPACKAGES

您好，

我和我的客户正在 研究IEC6.073万安全库，即IEC6.073万SWPACKAGES  http://www.ti.com/tool/IEC6.073万SWPACKAGES

我希望您有IEC6.073万-1规格，但我没有。

据我的客户说，该文档有表H.1，该表需要一些关于 '内部数据路径'和'内部数据地址'的信息。

他们的问题是，应测试F2.8377万D中的哪些功能块的'内部数据路径'和'内部数据地址'？

这是否合理，请您提供建议？

顺便说一下，他们的目标是B类

  • 0
    TI__Guru**** 2382630 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好，

    我们将等待您的回复。

    如果 我们的问题没有意义，请告诉我。

  • 0
    TI__Guru**** 2382630 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好，

    HWBIST将测试内部数据路径和数据地址，以及三月。

    有关详细信息，请参阅软件库中包含的《SW安全手册》。

    SAL
  • 0
    TI__Guru**** 2382630 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Sal，

    感谢您的回复。

    我可以确认您的回复吗？您的意思是HWBIST或STL_HWBIST_runFull()涵盖了｛5.1 and 5.2 ｝吗？

    我将查看《SW安全手册》(SPRUIH0.pdf)中的表4。

    从表中，我找不到您的单词"HWBIST"与｛5.1 内部数据路径–数据和5.2 内部数据路径-寻址｝之间的关系。

    我是一个新手，所以也许你的话对我来说很难。

    我可以理解，三个STL｛stl_flash，stl_March，stl_ram｝涵盖组件｛5.1 内部数据路径–数据和5.2 内部数据路径-寻址｝。

  • 0
    TI__Guru**** 2382630 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Hi, Hideaki,您好!

    您回答正确。 对于5.1 和5.2 ，stl_ram，stl_flash，stl_March和stl_pie _ram设计为满足组件要求。

    STL_HWBIST用于测试C28x CPU的组件1。 我不确定您所指的数据路径是哪种类型。

    如果您有任何其他问题，请告诉我。

    谢谢！

    SAL

  • 0
    TI__Guru**** 2382630 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Sal，

    我们能否向TI咨询从C类到B类的简化？

    例如，该部件具有ECC和奇偶校验逻辑，因此它应 满足B类，而不使用stl_flash或stl_ram。

    是错误还是其他实施？

  • 0
    TI__Guru**** 2382630 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Hideaki，

    您回答正确。 stl_flash和stl_ram中的API旨在允许客户根据需要注入错误，并通过执行内存读取来促进执行ECC/奇偶校验逻辑。

    SAL
  • 0
    TI__Guru**** 2382630 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Sal，
    谢谢你。 非常友好。