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部件号：TMS320F2.8069万 主题：controlSUITE中讨论的其他部件
您好，
我已为以下 寄存器实施寄存器卡住失败检查代码：
SCI，PIE，SPI，EPWM1，EPWM2， EPWM3，ADC，GPIO，ECAP1，ECAP2， EQEP1，EQEP2，外部中断寄存器。 我正在使用controlSUITE中提供的测试代码，其中 为每个寄存器准备了2个模式，如果 寄存器能够写入这些模式，则测试 被声明为成功。 我 已经准备 了一个用于测试的函数，并且在 PLL和时钟初始化后，我主要调用了此函数。 另外，在开始测试这些寄存器之前，我正在通过在 测试完成后写入DINT和写入EINT来禁用全局中断。 这很正常。
现在我的要求是每隔1秒测试这些寄存器 因此，我在初始化硬件和固件后，在1秒内调用此寄存器测试功能。 尽管所有状态寄存器都设置为只读，但某些寄存器仍出现故障。 我能看到的原因是，除了状态寄存器之外，有些寄存器有一个特定的位，该位是在启用中断后设置的，它只能由硬件清除。
例如：
外围设备= SCI A，寄存器名称= SCIFFTX，位7：TXFFINT标志-只读
此寄存器的模式= 0xA02A，写入模式后寄存器中的实际值= 0xA0AA，测试结果=失败
每个寄存器的模式都是这样形成的：只读位0写入，r/w位1写入。 但是由于中断导致设置了位7，因此不允许 清除它，因此寄存器测试失败。
您建议如何定期测试这些寄存器？ 此测试仅在开机时工作一次。 请回复。
