您好，
客户对ADC自校准有一些疑问。
问题是关于根据http://www.ti.com/lit/er/sprz342k/sprz342k.pdf中的勘误表所需的F2806x周期性ADC零偏移自校准
他们看到偏移值随温度的变化而有所变化，测试设置如下所示。 您能否告诉我这种温度依赖性是否在他们下面看到的范围内？
其次，下面有一个测试尝试建立对VREFLO路径输入电阻的依赖性，但我不确定这是否是一个好的测试，请参阅下面的内容。 这是否在预期范围内？
常规设置：
1. 我们的系统正在利用ADC的内部电压参考。
2. 让VREFHI引脚保持浮动状态。
3. VREFFLO引脚直接对地短路。
4. 我们使用VREFLO运行推荐的校准例程，如第499页上的spruh18g所述。
5. 校准例程在VREF0的两组5个ADC读数之间使用ping-pong，其中第一个读数被丢弃，第四个读数触发对下一组的请求。
6. 应用了80个计数的临时偏移，并累积和平均256个值以查找错误。
7. 例程使用ACQPS =6 (7个周期)，并且不启用重叠模式。
8. *我们发现通过8个通道进行流式传输并保留第一个条目确实影响生成的结果读数。
根据温度测试ADC偏移设置
1. 执行上述初始化会将ADCOFFTRIM设置为0x22
2. 我们重新运行校准并始终获得该值。
3. 读取1.65V参考电压读数为0x0822-0x824 (约为1.672V)。
4. 使ADCOFFTRIM失效，返回大约0x800-0x802
5. 使用另一个通道和一些增益电路，我们应用了18-24V输入，并注意到如果没有应用偏移，则产生的寄存器值与预期输入精确匹配。
6. 我们取出热气枪，将板的温度从大约20C提高到大约60C。 再次测试电压范围。 我们注意到可能出现1计数漂移。 没有什么重要的。
7. 我们重新启动了处理器，保持了较高的温度。 校准生成0x1E
8. 我们重新运行校准，它将新值保持在温度下。
9. 对于ADC上的每个测量值，我们使用一个精确度约为0.002V的O形电位计确认了引脚处的相应电压
根据VREFLE输入电阻测试ADC偏移设置
1. 设置新主板，运行基线检查。 校准结果为0x1C，VREFFLO关闭。
2. 将接地线连接到外部引脚(B5)并修改校准例程以使用外部值。 0x1b
3. 我将一个5.9kohm电阻器放在其中并重新校准。 0x1D0 (偏移量的10倍)。
4. 替换为2.2千欧的电阻器。 0x13A。
5. 220欧姆，0x1C4，0x1C3
6. 10欧姆，0x18，0x19，0x19
7.3.3欧姆 ，0x1D (当我们接近0时增加！)
8.浮动，0x16C，0x16B，0x167 (低于5.9k电阻器！)
结论：
1. 应用0V电源时，应用于ADC的输入电阻似乎具有很强的灵敏度。
2. 系统自然看起来放松到0x167，因此超过阈值的电阻自然会接近该值。
3. 对于低于500欧姆的电阻，其行为是非线性的。
4. VREFFLO的测量具有温度灵敏度。
5. 这种灵敏度似乎不会影响偏离滑轨的ADC读数，可能意味着接近滑轨的增益误差或非线性。
6. 毫不奇怪，浮动值在结果校准中显示更大的噪声。
有人能对测试和结论发表意见吗？
谢谢！
——Gunter
